特許
J-GLOBAL ID:200903051820614703
SiCショットキーダイオードおよびその製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
篠部 正治
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-226065
公開番号(公開出願番号):特開2001-053293
出願日: 1999年08月10日
公開日(公表日): 2001年02月23日
要約:
【要約】【課題】順方向のオン電圧が小さく、逆漏れ電流の小さいSiCショットキーダイオードおよびその製造方法を提供する。【解決手段】?@ショットキー電極とオーミック電極のうちの少なくとも一方を、SiC側からTi/Ni/Auなる三層構造とする。?A燐等のイオン注入により高不純物濃度層を形成し、その表面にオーミック電極を設ける。?B表面を水素終端処理し、温度700〜800°Cの熱処理後直ちにショットキー電極を形成する
請求項(抜粋):
半導体SiCの表面にショットキーバリアを生ずるショツトキー電極と、オーミック電極とが設けられたSiCショットキーダイオードにおいて、ショットキー電極とオーミック電極のうちの少なくとも一方が、SiC側からチタン/ニッケル/金なる三層構造であることを特徴とするSiCショットキーダイオード。
FI (2件):
H01L 29/48 D
, H01L 29/48 M
Fターム (11件):
4M104AA03
, 4M104BB05
, 4M104BB14
, 4M104CC01
, 4M104CC03
, 4M104DD22
, 4M104DD26
, 4M104DD37
, 4M104DD79
, 4M104GG03
, 4M104HH20
引用特許:
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