特許
J-GLOBAL ID:200903051876125713

誘電体材料の高周波特性測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 野村 泰久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-348745
公開番号(公開出願番号):特開平11-166952
出願日: 1997年12月04日
公開日(公表日): 1999年06月22日
要約:
【要約】【課題】 この発明は、従来の共振器法による誘電体材料の高周波特性測定方法の問題点を解決し、実効比誘電率と誘電体損失を実装状態で正確に求める誘電体材料の高周波特性測定方法を提供することを目的とする。【解決手段】 この発明の誘電体材料の高周波特性測定方法は、電場により屈折率が変化する素子、特にポッケルス効果を利用したE-Oプローバーにより、高周波伝送線路を伝わる電磁波の電場成分を該伝送線路の伝搬方向に対する強度と位相の変化を測定し、前記伝送線路の実効比誘電率と誘電体損失を求めることを特徴とするものである。さらに、前記伝送線路が実装状態のマイクロストリップ線路であることを特徴とするものである。
請求項(抜粋):
電場により屈折率が変化する素子を用いることにより、高周波伝送線路を伝わる電磁波の電場成分について該伝送線路の伝搬方向に対する強度と位相の変化を測定し、前記伝送線路の実効比誘電率と誘電体損失を求めることを特徴とする誘電体材料の高周波特性測定方法。
IPC (2件):
G01R 27/26 ,  G01N 22/00
FI (5件):
G01R 27/26 T ,  G01R 27/26 H ,  G01N 22/00 U ,  G01N 22/00 W ,  G01N 22/00 K
引用特許:
審査官引用 (7件)
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