特許
J-GLOBAL ID：200903052016321619

硬質被覆層がすぐれた耐チッピング性を発揮する表面被覆サーメット製切削工具

発明者：
本間 哲彦

本間 哲彦 について

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対馬 文雄

対馬 文雄 について

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早樋 拓也

早樋 拓也 について


出願人/特許権者：
三菱マテリアル株式会社

三菱マテリアル株式会社 について


代理人 (2件)： 富田 和夫 ,  鴨井 久太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-109617
公開番号（公開出願番号）：特開2005-279909
出願日： 2004年04月02日
公開日（公表日）： 2005年10月13日
要約：
【課題】硬質被覆層がすぐれた耐チッピング性を発揮する表面被覆サーメット製切削工具を提供する。【解決手段】表面被覆サーメット製切削工具が、WC基超硬合金またはTiCN基サーメットで構成された工具基体の表面に、(a)下部層として、いずれも化学蒸着形成されたTiC層、TiN層、TiCN層、TiCO層、およびTiCNO層のうちの1層または2層以上からなり、Ti化合物層、(b)上部層として、化学蒸着形成した状態でκ型またはθ型の結晶構造を有する。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
炭化タングステン基超硬合金または炭窒化チタン基サーメットで構成された工具基体の表面に、 (a)下部層として、いずれも化学蒸着形成されたTiの炭化物層、窒化物層、炭窒化物層、炭酸化物層、および炭窒酸化物層のうちの1層または2層以上からなり、かつ3〜20μmの合計平均層厚を有するTi化合物層、 (b)上部層として、化学蒸着形成した状態でκ型またはθ型の結晶構造を有し、かつ、 組成式:(Al1-X YX )2 O3 、 で表わした場合(上記組成式における「Y」はイットリウムを示す)、電子線マイクロアナライザー(EPMA)で測定して、X値が原子比で0.001〜0.01を満足するAl系酸化物層の表面に、 組成式:TiOZ 、 で表わした場合、オージェ分光分析装置で測定して、Z値がTiに対する原子比で1.2〜1.9、を満足するTi酸化物層を0.1〜2μmの平均層厚で化学蒸着形成した状態で、加熱変態処理を施して、前記κ型またはθ型の結晶構造を有するAl系酸化物層の結晶構造をα型結晶構造に変態してなると共に、 電界放出型走査電子顕微鏡を用い、表面研磨面の測定範囲内に存在する六方晶結晶格子を有する結晶粒個々に電子線を照射して、前記結晶粒の結晶面である(0001)面の前記表面研磨面の法線に対する傾斜角を測定し、前記個々の結晶粒が示す0〜45度の範囲内の測定傾斜角を0.25度のピッチ毎に区分し、各区分内に存在する測定傾斜角を区分毎に集計してなるポールプロットグラフにおいて、1〜11度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが現れ、かつ1〜15μmの平均層厚を有する加熱変態α型Al系酸化物層、 以上(a)および(b)で構成された硬質被覆層を形成してなる硬質被覆層がすぐれた耐チッピング性を有する表面被覆サーメット製切削工具。
IPC (2件)：
B23C5/16 ,  B23B27/14
FI (2件)：
B23C5/16 ,  B23B27/14 A
Fターム (7件)：
3C046FF03 ,  3C046FF05 ,  3C046FF10 ,  3C046FF13 ,  3C046FF16 ,  3C046FF22 ,  3C046FF25
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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