特許
J-GLOBAL ID：200903052045552298

懸濁させた磁性微粒子の磁化率測定方法及び装置

発明者：
渡會 仁

渡會 仁 について

, 
木村 恒久

木村 恒久 について


出願人/特許権者：
大阪大学長

大阪大学長 について


代理人 (1件)： 杉村 暁秀 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-261557
公開番号（公開出願番号）：特開2002-071645
出願日： 2000年08月30日
公開日（公表日）： 2002年03月12日
要約：
【要約】【課題】微小磁極片を用いて100マイクロメータ〜数100マイクロメータ程度の微少幅を隔てて領域に大きな磁場勾配中でキヤビラリー内の溶液中に磁性微小粒子の磁気泳動を引き起こし、微粒子の磁化率を決定することを目的とする。【解決手段】磁場勾配中に設置されたセル内の溶媒に懸濁させた磁化率未知の磁性微粒子の磁気泳動速度および粒径を測定し、一方磁場勾配中に設置されたセル内の溶媒に懸濁させた磁化率既知の磁性微粒子の磁気泳動速度および粒径を測定し、磁化率既知の微粒子の磁気泳動速度および粒径を測定値に基づいて磁場分布を決定し、決定した磁場分布、磁化率未知の微粒子の磁気泳動速度および粒径の測定値に基づいて個々の微粒子の磁化率を決定することを特徴とする、磁性微粒子の磁化率測定方法。
請求項（抜粋）：
磁場勾配中に設置されたセル内の溶媒に懸濁させた磁性微粒子の磁気泳動速度および粒径を測定し、測定した微粒子の磁気泳動速度および粒径、媒体の粘度および磁化率並びに測定磁気勾配に基づいて微粒子の磁化率を決定することを特徴とする、個々の微粒子の磁化率測定方法。
IPC (4件)：
G01N 27/76 ,  G01N 15/02 ,  G01P 13/00 ,  G01B 11/10
FI (4件)：
G01N 27/76 ,  G01N 15/02 B ,  G01P 13/00 E ,  G01B 11/10 H
Fターム (25件)：
2F034AA07 ,  2F034DA11 ,  2F034DA15 ,  2F065AA26 ,  2F065BB05 ,  2F065BB15 ,  2F065CC00 ,  2F065DD06 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065HH13 ,  2F065HH15 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP12 ,  2F065PP24 ,  2F065QQ23 ,  2G053AB06 ,  2G053BA05 ,  2G053BA07 ,  2G053BA08 ,  2G053BC20 ,  2G053CB27 ,  2G053CB29
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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