特許
J-GLOBAL ID：200903052262235101

粉粒体の粒度分布計測方法および装置

発明者：
江藤 和宣

江藤 和宣 について

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川島 章浩

川島 章浩 について

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中元 茂実

中元 茂実 について


出願人/特許権者：
JFEスチール株式会社

JFEスチール株式会社 について


代理人 (1件)： 中濱 泰光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-316271
公開番号（公開出願番号）：特開2006-126061
出願日： 2004年10月29日
公開日（公表日）： 2006年05月18日
要約：
【課題】粉粒体の粒度分布を撮像画像の画像処理により解析する粒度分布計測方法および装置であって、計測精度の高い粉粒体の粒度分布計測方法および装置を提供することにある。【解決手段】撮像された画像を2次元フーリエ変換を施しスペクトル分布を調べ、低周波帯域および高周波帯域での平均パワーの比から原料状態を判断し、原料状態による対象画像の分類を行ない、分類された各々の画像データごとに画像処理パラメータを設定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
粉粒体の充填状況をカメラにて撮像する画像撮影工程と、 得られた画像に対して2次元フーリエ変換を施し、周波数空間のパワースペクトル分布の内、所定の低周波域および高周波域のパワースペクトルの平均値を求め、求めた低周波域および高周波域のパワースペクトルの平均値の比で定義されるスペクトル偏在度を算出するスペクトル偏在度算出工程と、 算出したスペクトル偏在度に基づき対象画像を分類する画像分類工程と、 分類された画像ごとに、フィルタリング処理および2値化処理を行った後、各粒径範囲での粒子数のカウントを行い、予め用意した所定の検量線を用いて粒度分布を算出する粒度分布算出工程とを有することを特徴とする粉粒体の粒度分布計測方法。
IPC (1件)：
G01N 15/02
FI (2件)：
G01N15/02 B ,  G01N15/02 C
引用特許：
出願人引用 (5件)
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