特許
J-GLOBAL ID:200903052363625547

真円度測定装置、真円度測定方法、及び真円度測定プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 伊丹 勝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-135703
公開番号(公開出願番号):特開2008-292199
出願日: 2007年05月22日
公開日(公表日): 2008年12月04日
要約:
【課題】偏心が大きい場合であっても、高精度で偏心が求められる真円度測定装置、真円度測定方法、及び真円度測定プログラムを提供する。【解決手段】真円度測定装置は、接触検出時において回転軸Oと測定子24とを結ぶX軸上の回転軸Oと測定子24の表面との間の距離を測定距離として取得し、回転角度を測定角度として取得する測定値取得部を有する。さらに、真円度測定装置は、偏心距離e、偏心角度αを計算する偏心位置計算部と、偏心距離e、偏心角度α、測定角度θ、ワーク4の半径R、及び測定子24の中心から表面までの長さ(半径Rtip)に基づき、ワーク4と測定子24との接触する接触点Pから回転軸Oまでの距離OPとなるように測定距離を補正し、回転軸Oを中心とするX軸と接触点Pとの間の補正角度γを測定角度に加算する補正を行う測定値補正部とを備える。【選択図】図3
請求項(抜粋):
回転軸を中心として被測定物を回転させる回転部、前記被測定物との接触に基づき当該接触を検出する検出部、当該検出部による接触検出時において前記回転軸と前記検出部の中心とを結ぶ検出線上の前記回転軸と前記検出部の表面との間の距離を測定距離として取得し、前記回転部による回転角度を測定角度として取得する測定値取得部を有する真円度測定装置であって、 前記測定距離及び前記測定角度に基づき、前記被測定物の軸心と前記回転軸との間の距離を偏心距離として計算し、前記回転軸を中心とする前記被測定物の軸心と前記回転軸との間の角度を偏心角度として計算する偏心位置計算部と、 前記偏心距離、前記偏心角度、前記測定角度、前記被測定物の半径、及び前記検出部の中心から表面までの長さに基づき、前記被測定物と前記検出部との接触する接触点から前記回転軸までの距離となるように前記測定距離を補正し、前記回転軸を中心とする前記検出線と前記接触点との間の補正角度を前記測定角度に加算する補正を行う測定値補正部と を備えることを特徴とする真円度測定装置。
IPC (1件):
G01B 5/20
FI (1件):
G01B5/20 R
Fターム (11件):
2F062AA02 ,  2F062AA37 ,  2F062AA57 ,  2F062AA71 ,  2F062AA81 ,  2F062BB03 ,  2F062DD01 ,  2F062EE01 ,  2F062EE62 ,  2F062FF17 ,  2F062JJ00
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (2件)
  • 特開平4-329306
  • 真円度測定機
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2002-258742   出願人:株式会社東京精密

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