特許
J-GLOBAL ID：200903052397212438
シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
鈴木 崇生
, 梶崎 弘一
, 尾崎 雄三
, 谷口 俊彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-351122
公開番号（公開出願番号）：特開2005-114624
出願日： 2003年10月09日
公開日（公表日）： 2005年04月28日
要約：
【課題】 欠陥位置の検出や特定をする処理を簡単に行うことができるシート状製品(偏光板原反)の検査方法を提供すること。【解決手段】 帯状の偏光板原反Nの幅方向端部に、偏光板原反Nの移送される方向に沿って、所定間隔毎に移送方向の位置を表わす識別情報を記録する工程と、記録された識別情報を読み取る工程と、偏光板原反Nが移送される方向の移動量を検出する工程と、偏光板原反Nの表面欠陥を検査する検査工程と、読み取られた識別情報と検出された移動量とに基づいて、検出された表面欠陥の位置を演算し、この演算された位置情報を記憶装置9に記憶する工程とを有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
帯状のシート状製品の幅方向端部に、シート状製品の移送される方向に沿って、所定間隔毎に移送方向の位置を表わす識別情報を記録する工程と、
この記録された識別情報を読み取る工程と、
シート状製品が移送される方向の移動量を検出する工程と、
シート状製品の表面欠陥を検査する検査工程と、
読み取られた識別情報と検出された移動量とに基づいて、検出された表面欠陥の位置情報を演算し、この演算された位置情報を記憶装置に記憶する工程とを有するシート状製品の検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (9件)：
2G051AA32
, 2G051AB02
, 2G051CA04
, 2G051DA06
, 2G051DA15
, 2H049BA02
, 2H049BC01
, 2H049BC13
, 2H049BC22
出願人引用 (2件)
審査官引用 (9件)
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