特許
J-GLOBAL ID:200903052487048041
集積回路及びロット選別システム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
三好 秀和 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-341041
公開番号(公開出願番号):特開2001-194425
出願日: 1999年11月30日
公開日(公表日): 2001年07月19日
要約:
【要約】【課題】 テストコストの上昇を招くことなく、PLL回路のジッタ値を測定して容易に良品と不良品を判別すること。【解決手段】 集積回路に搭載されているテスト回路の位相誤差生成回路9は、同集積回路に搭載されているPLL回路の基準信号Frefと分周信号Fvarを入力して両者の位相誤差を求めて位相誤差信号Esigを生成して、積分器10に出力する。積分器は入力されたEsigを積分して前記位相誤差に対応する積分電圧Verrを生成して、電圧比較器11に出力する。電圧比較器は入力された積分電圧Verrを基準電圧Vrefと比較し、積分電圧Verrが基準電圧Vrefより大きい場合は、不良品を示すハイレベルを出力し、積分電圧Verrが基準電圧Vrefより小さい場合は、良品を示すローレベルを出力する。従って、電圧比較器の2値出力を検出するだけで、当該集積回路の良、不良を直ちに知ることができる。
請求項(抜粋):
電圧制御発振器の発振信号を分周した信号と基準信号とを入力して両者の位相誤差信号を検出する位相誤差生成回路と、前記位相誤差生成回路が出力する誤差信号を積分する積分回路と、所定の基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、前記積分回路から出力される積分結果電圧と前記基準電圧生成回路で生成された基準電圧を比較する電圧比較回路と、を具備することを特徴とする集積回路。
IPC (5件):
G01R 31/28
, H01L 27/04
, H01L 21/822
, H03L 7/08
, G01R 29/02
FI (4件):
G01R 29/02 L
, G01R 31/28 V
, H01L 27/04 T
, H03L 7/08 Z
Fターム (26件):
2G032AC03
, 2G032AD04
, 2G032AE07
, 2G032AE08
, 2G032AG01
, 5F038BB01
, 5F038DF01
, 5F038DF14
, 5F038DT10
, 5F038DT11
, 5F038EZ20
, 5J106AA04
, 5J106CC01
, 5J106CC24
, 5J106CC27
, 5J106CC52
, 5J106DD02
, 5J106DD06
, 5J106DD13
, 5J106DD32
, 5J106DD34
, 5J106KK32
, 9A001BB05
, 9A001KK31
, 9A001KK54
, 9A001LL05
引用特許:
出願人引用 (4件)
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位相差検出装置及びこれを備える半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-141830
出願人:日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
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PLL回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-251426
出願人:三菱電機株式会社
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特開昭58-196770
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特開昭58-039122
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審査官引用 (4件)