特許
J-GLOBAL ID：200903052705657942
歪・温度分布測定方法およびその測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
谷 義一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-201897
公開番号（公開出願番号）：特開平10-048067
出願日： 1996年07月31日
公開日（公表日）： 1998年02月20日
要約：
【要約】【課題】 長距離測定が可能な歪み分布測定方法、および歪みと温度を区別して測定可能な方法と、この測定に用いる装置の実現。【解決手段】 光ファイバにおける後方ブリルアン散乱係数の歪み依存性係数C1 、その温度依存係数C2 、ブリルアン周波数シフトの歪み依存性係数C3 、その温度依存係数C4 を予め求めておき、光ファイバ6に光を入射し、光ファイバ各点の後方ブリルアン散乱光の散乱係数ηの相対変化δη/ηと、ブリルアン周波数シフトの変化δνB の両方を光検出器8を介して検出し、光ファイバに発生した歪みの変化δεと光ファイバの温度の変化δTに関する2元連立方程式δη/η=C1 ・δε+C2 ・δT、δνB =C3 ・δε+C4 ・δTを演算により解くことにより、光ファイバに発生した歪みの変化δεと光ファイバの温度の変化δTをそれぞれ区別して同時に測定する。
請求項（抜粋）：
光ファイバにおける後方ブリルアン散乱係数の歪み依存性係数C1 を予め求めておき、光ファイバに光を入射し、前記光ファイバの各点の後方ブリルアン散乱光の散乱係数ηの歪みによる相対変化δη/ηを検出し、歪みの変化δεを、【数1】δε=(δη/η)/C1の式から求めることを特徴とする歪分布測定方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01L 1/00 B
, G01L 1/00 G
, G01K 11/12 F
