特許

J-GLOBAL ID：200903052814172991

テラヘルツ波式計測装置及び方法

発明者： 西澤 潤一 ,  柴田 治郎
出願人/特許権者： 財団法人半導体研究振興会
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-044545
公開番号（公開出願番号）：特開2007-199044
出願日： 2006年01月24日
公開日（公表日）： 2007年08月09日
要約：

【課題】 テラヘルツ波の透過性は、被測定物の内部物質までの計測を可能にし、高い周波数分解能は、吸収特性から分子の結合エネルギーレベルで物質の違いを峻別し、また、テラヘルツ波の被爆による危険は殆んど無いので、安全で高精度・小型・低価格の計測装置及び方法を提供することが可能である。【解決手段】 被測定物の成分濃度を非接触で計測するテラヘルツ波式計測装置において、0.01THzから30THzの間のテラヘルツ波のうち、該成分夫々が有している吸収率の大きい特定周波数のテラヘルツ波が、被測定物を透過する間に減衰する度合、即ち、吸光度を夫々測定して、該吸光度と該成分濃度の関係を示した検量線を用いて、被測定物の成分濃度を計測する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被測定物の成分濃度を非接触で計測するテラヘルツ波式計測装置において、 0.01THzから30THzの間のテラヘルツ波のうち、該成分夫々が有している吸収率の大きい特定周波数のテラヘルツ波が被測定物を透過する間に減衰する度合、即ち、吸光度を夫々測定して、該吸光度と該成分濃度の関係を示した検量線から、被測定物の成分濃度を計測する手段を備えていることを特徴とするテラヘルツ波式計測装置及び方法

IPC (1件)：

G01N 21/35

FI (1件)：

G01N21/35 Z

Fターム (13件)：

2G059AA01 ,  2G059BB09 ,  2G059CC09 ,  2G059DD17 ,  2G059EE01 ,  2G059EE05 ,  2G059EE11 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM12

引用特許：

出願人引用 (5件)

• テラヘルツ波発生装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-141141   出願人：財団法人半導体研究振興会
• テラヘルツ波照射方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-075300   出願人：有限会社テラヘルツ研究所
• 低温殺菌法
  公報種別：再公表公報   出願番号：JP2004000001   出願人：有限会社山田エビデンスリサーチ
• A comparative study of THz spectra(Proceedings of the Japan Academy,ser.B.Vol.81,No.1(2005))
  
• GaP THz wave generator and THz spectrometer using Cr:Forsterite lasers(Review of Sientific Instruwents 76,123109(2005))
  

審査官引用 (2件)

• 反射光学特性によって物性を測定する装置および測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-436318   出願人：財団法人半導体研究振興会
• 電磁波を照射してバクテリア、ウィルスおよび毒性物質を測定する方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-436471   出願人：財団法人半導体研究振興会