特許
J-GLOBAL ID：200903052849451680
漏れ電流監視のための回路構成
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-518919
公開番号（公開出願番号）：特表2001-506748
出願日： 1997年10月15日
公開日（公表日）： 2001年05月22日
要約：
【要約】この発明は、個々のスイッチ(T1、Tn)を介して供給ライン(REF)に並列に接続されまた接地されるバルブコイル(L1、Ln)を複数含む回路からの漏れ電流監視のためのスイッチング構成に関し、供給ライン(REF)が、供給電源(KL30、UB)の陽極に接続され、その上、テスト信号源として用いられるテスト電流源(3)とに接続されるマスタースイッチ(MD)を介して接続されている。このスイッチング構成は、前段で各々を閉じるマスタースイッチ(MD)と共に個々のスイッチ(T1、Tn)がまだ開き、テスト電流源(3)が供給電源(UB)に接続され、活性化するように構成されている。その結果として、供給ライン(REF)上の電位が増加される。コンパレータ(5)は、この供給ライン(REF)上の電位と供給電位との間の差を確定する。この差が閾値を超えていたならば、これを漏れ電流として指摘する。
請求項（抜粋）：
個々のスイッチによって供給電源の第2の極が接続されまた接地され、その中で供給ラインが供給電源または供給電源の第1の極とメインスイッチを介して接続され、漏れ電流検査のため、漏れ電流検出のために評価することのできる供給ライン上の電位変化を引き起こす補助源またはテスト信号源から入力可能な供給ラインに並列に接続された複数のコイルまたは他の誘導負荷を有する回路の漏れ電流監視のための回路構成において、 テスト電流源(3)は、供給電源(UB;KL30)と接続される補助またはテスト信号源を供給し、それによって動作され、前段のメインスイッチ(MD)が閉じ、個々のスイッチ(T1、Tn)が(まだ)開き、そこで供給ライン(REF)上に発生する電位が漏れ電流検出のために評価され、決定されることを特徴とする漏れ電流監視のための回路構成。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/02
, G01R 19/165 A
