特許

J-GLOBAL ID：200903052868800475

ニッケル基合金の粒界腐食性診断方法およびシステム

発明者： 久保 達也 ,  斉藤 宣久 ,  伊藤 幹郎 ,  坂本 博司 ,  田中 重彰
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 波多野 久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-314401
公開番号（公開出願番号）：特開2002-122561
出願日： 2000年10月13日
公開日（公表日）： 2002年04月26日
要約：

【要約】【課題】Ni基合金製溶接金属を対象に、電流電位曲線を測定してそこから得た電気化学的特性値によって材料の粒界腐食性を診断する手法において、硫酸に有機インヒビターを添加した電解液を用いて結晶粒内の腐食を抑制しつつ、結晶粒界の腐食量を診断できる再活性化率測定方法およびシステムを提供する。【解決手段】ニッケル基合金の粒界腐食性を診断する方法において、酸に有機インヒビターとしてチオアセトアミド(CSCH3NH2)を添加した電解液を被計測部に接触させ、被計測部を陽極として電位を制御しつつ単一あるいは複数の方向に掃引して被計測部の電流電位曲線の測定を行い、この曲線から得られる電気化学的特性値を指標として被計測部の粒界腐食性を診断する。

請求項（抜粋）：

ニッケル基合金の粒界腐食性を診断する方法において、酸に有機インヒビターとしてチオアセトアミド(CSCH3NH2)を添加した電解液を被計測部に接触させ、被計測部を陽極として電位を制御しつつ単一あるいは複数の方向に掃引して被計測部の電流電位曲線の測定を行い、この曲線から得られる電気化学的特性値を指標として被計測部の粒界腐食性を診断することを特徴とするニッケル基合金の粒界腐食性診断方法。

IPC (2件)：

G01N 27/26 351 ,  G01N 33/20

FI (2件)：

G01N 27/26 351 C ,  G01N 33/20 N

Fターム (7件)：

2G055AA05 ,  2G055BA12 ,  2G055CA11 ,  2G055EA01 ,  2G055EA04 ,  2G055EA08 ,  2G055FA06

引用特許：

審査官引用 (8件)

• 応力腐食割れ感受性診断方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-029502   出願人：株式会社日立製作所
• Cr含有オーステナイト合金の鋭敏化評価方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-180560   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平4-204044
  
• 特開平4-204044
  
• 金属材料の腐食性測定方法および測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-231822   出願人：株式会社日立製作所
• クロム含有合金のクロム濃度測定法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-008299   出願人：株式会社日立製作所
• 構造材の鋭敏化度検出方法及び原子力プラント水質制御システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-195055   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平4-204044
  

引用文献：

審査官引用 (1件)

• Application of the Modified Electrochemical Potentiodynamic Reactivation Method to Evaluate Intergra