特許
J-GLOBAL ID：200903052889649840

液晶表示装置の検査方法およびその検査装置

発明者：
星野 真一

星野 真一 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (1件)： 森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-331818
公開番号（公開出願番号）：特開2000-155302
出願日： 1998年11月24日
公開日（公表日）： 2000年06月06日
要約：
【要約】【課題】 液晶表示装置の検査方法において、画素電極がデルタ配列に配置された場合でも、赤,緑,青の表示を可能とし、かつ各画素構成および前記各配線などのパターンに起因する不良の検査検出力を向上させることを目的とする。【解決手段】 画素の配列における奇数行の各スイッチング素子4のゲート電位を印加するゲート配線2に接続した第1ゲート側検査配線G1と、偶数行の各スイッチング素子4のゲート電位を印加するゲート配線2に接続した第2ゲート側検査配線G2とを設け、第1ゲート側検査配線G1への駆動電位とソース側検査配線S1〜S3への駆動電位とによる表示と、第2ゲート側検査配線G2への駆動電位とソース側検査配線S1〜S3への駆動電位とによる表示を行う。この方法により、赤,緑,青の画素電極とがデルタ配列に配置されていても、赤,緑,青の表示が可能となり簡易画像検査を実現でき、不良検出力の高い検査ができる。
請求項（抜粋）：
各画素の画素電極の画素電位を保持するための蓄積容量が、前記画素のスイッチング素子のゲートに電位を印加するゲート配線に隣接する他のゲート配線に接続されたアクティブマトリクス方式の液晶表示装置の検査方法であって、奇数行の各画素のスイッチング素子のゲートに電位を印加するゲート配線に接続した第1ゲート側検査配線と、偶数行の前記スイッチング素子のゲートに電位を印加するゲート配線に接続した第2ゲート側検査配線とを設け、前記第1ゲート側検査配線と第2ゲート側検査配線に印加する駆動電位により、奇数行の画素と偶数行の画素とを分離して駆動させることを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
IPC (3件)：
G02F 1/133 550 ,  G09G 3/36 ,  H04N 5/66 102
FI (3件)：
G02F 1/133 550 ,  G09G 3/36 ,  H04N 5/66 102 Z
Fターム (23件)：
2H093NA16 ,  2H093NA42 ,  2H093NA80 ,  2H093NC14 ,  2H093NC23 ,  2H093NC34 ,  2H093NC68 ,  2H093NC90 ,  2H093ND49 ,  2H093ND53 ,  2H093ND56 ,  2H093NE07 ,  5C006AA21 ,  5C006BB16 ,  5C006BC22 ,  5C006BC23 ,  5C006EB01 ,  5C006FA51 ,  5C006GA02 ,  5C058AA08 ,  5C058AB02 ,  5C058BA01 ,  5C058BA35
引用特許：
審査官引用 (4件)
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