特許
J-GLOBAL ID：200903053282281432
断層撮影装置、それを備えた撮影システム並びに撮影データ取得方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
杉谷 勉
, 戸高 弘幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-001469
公開番号（公開出願番号）：特開2008-170183
出願日： 2007年01月09日
公開日（公表日）： 2008年07月24日
要約：
【課題】画像を評価する際において、被検体の大きさに関する物理量に依存しない指標を求めることができる断層撮影装置、それを備えた撮影システム並びに撮影データ取得方法を提供することを目的とする。【解決手段】断面積演算部16cは、被検体の大きさに関する物理量として被検体の断面積を演算するとともに、NEC演算部16bは、画像を評価する物理量として雑音等価計数NECを演算する。断面積演算部16cで演算された被検体の断面積およびNEC演算部16bで演算された雑音等価計数NECに基づいて、C-NEC演算部16dは、被検体の大きさ当たりの画像を評価する物理量として単位面積当たりの雑音等価計数C-NECを演算する。このように、単位面積当たりの雑音等価計数C-NECを演算することで、画像を評価する際において、被検体の断面積に依存しない指標を求めることができる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
放射性薬剤が投与された被検体から発生した放射線を同時計数して断層画像を得る断層撮影装置であって、被検体の大きさに関する物理量を演算する第1物理量演算手段と、画像を評価する物理量を演算する第2物理量演算手段と、前記第1物理量演算手段で演算された物理量および前記第2物理量演算手段で演算された物理量に基づいて、被検体の大きさ当たりの画像を評価する物理量を演算する第3物理量演算手段とを備えることを特徴とする断層撮影装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01T1/161 A
, A61B6/03 377
, G01T1/161 C
2G088EE02
, 2G088FF02
, 2G088FF07
, 2G088JJ02
, 2G088KK11
, 2G088KK15
, 2G088KK28
, 2G088KK29
, 2G088KK33
, 2G088KK35
, 2G088LL02
, 2G088LL09
, 2G088LL11
, 2G088LL12
, 2G088LL13
, 2G088LL28
, 4C093AA25
, 4C093FF21
, 4C093FF31
