特許
J-GLOBAL ID：200903053328005222

光モジュール試験装置及び光モジュール特性の測定方法

発明者：
小野 晴義

小野 晴義 について

, 
馬場 功

馬場 功 について


出願人/特許権者：
富士通カンタムデバイス株式会社

富士通カンタムデバイス株式会社 について


代理人 (1件)： 井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-198338
公開番号（公開出願番号）：特開2003-017789
出願日： 2001年06月29日
公開日（公表日）： 2003年01月17日
要約：
【要約】【課題】 光モジュールの環境温度試験において、光モジュールの表面温度又は表面温度分布を精密に測定しかつ制御する。【解決手段】光モジュール10表面の指定された部位の温度を放射温度計40により測定し、その測定温度に基づき光モジュール10と接触する温度可変部30を加熱・冷却することで、当該部位を所定温度に制御する。試験温度として光モジュール表面温度を定義する試験仕様においても、光モジュールの表面を直接測定し制御するので、精密な温度シーケンスを実現できる。
請求項（抜粋）：
光モジュールの一部に接触して熱伝導により該光モジュールの温度を可変する温度可変部と、該光モジュール表面の指定された部位の温度を測定する放射温度計と、該放射温度計の出力に基づいて該温度可変部の温度を制御し、該部位を所望温度に保持する温度コントローラとを備えたことを特徴とする光モジュール試験装置。
IPC (3件)：
H01S 5/00 ,  G01J 5/10 ,  G01M 11/00
FI (3件)：
H01S 5/00 ,  G01J 5/10 B ,  G01M 11/00 T
Fターム (19件)：
2G066AA20 ,  2G066AC20 ,  2G066BA09 ,  2G066BA38 ,  2G066BA44 ,  2G066BB11 ,  2G066BC15 ,  2G066CA15 ,  2G086EE04 ,  2G086EE12 ,  5F073AB15 ,  5F073AB27 ,  5F073AB28 ,  5F073BA02 ,  5F073EA15 ,  5F073FA05 ,  5F073FA06 ,  5F073FA24 ,  5F073FA25
引用特許：
審査官引用 (4件)
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