特許
J-GLOBAL ID：200903053386846130

マーク認識方法および装置

発明者：
櫛山 義明

櫛山 義明 について

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師岡 博明

師岡 博明 について

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小倉 豊

小倉 豊 について

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小沢 正人

小沢 正人 について


出願人/特許権者：
ジューキ株式会社

ジューキ株式会社 について


代理人 (1件)： 加藤 卓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-116917
公開番号（公開出願番号）：特開2003-317097
出願日： 2002年04月19日
公開日（公表日）： 2003年11月07日
要約：
【要約】【課題】 基板などの対象物上のマークを高精度で認識することが可能なマーク認識方法および装置を提供する。【解決手段】 画像読み取り手段で基板マークが読み取られ(S1)、読み取られた基板マークと複数のモデルテンプレートを順次比較することにより(S4〜S7)、前記読み取られた基板マークに最適なモデルテンプレートが選択される(S9、S10)。実際の基板生産時には、このように選択されたモデルテンプレートで基板マークの画像がテンプレートマッチングされて基板マークが認識される。このような構成では、認識すべきマークに対応する理想的なテンプレートを用いてテンプレートマッチングを行うことができるので、マッチング処理の精度が向上し、高精度のマーク認識が可能となる。
請求項（抜粋）：
電子部品実装機、印刷機、ディスペンサなどに搬送されてくる基板などの対象物上のマークを認識するマーク認識方法において、画像読み取り手段で対象物上のマークを読み取り、前記読み取られたマークと複数のモデルテンプレートを比較することにより前記読み取られたマークに対応するモデルテンプレートを選択し、対象物の画像を読み取り、前記選択されたモデルテンプレートと対象物の画像をテンプレートマッチングして対象物上のマークを認識することを特徴とするマーク認識方法。
IPC (3件)：
G06T 7/00 300 ,  G06T 1/00 305 ,  H05K 13/08
FI (3件)：
G06T 7/00 300 D ,  G06T 1/00 305 C ,  H05K 13/08 Q
Fターム (16件)：
5B057AA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CH07 ,  5B057CH11 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC33 ,  5B057DC39 ,  5L096AA06 ,  5L096BA08 ,  5L096JA09 ,  5L096JA18 ,  5L096KA01
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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