特許

J-GLOBAL ID：200903053506732770

電子光学式モジュールを試験する自動システムとそれに対応する方法

発明者： ディーヴィド・チャールズ・ボクダン ,  ドナルド・リン・パール ,  ディーヴィド・トッド・プリブラ
出願人/特許権者： インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
代理人 (1件)： 合田 潔 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-005592
公開番号（公開出願番号）：特開平7-140212
出願日： 1994年01月24日
公開日（公表日）： 1995年06月02日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】電子光学式モデュールを試験するための自動式のコンピュータで制御されるシステムとそれに対応する方法を開示する。【構成】電子コンピュータ70と前記コンピュータと通信することができ電気パターンを発生するパターン発生手段120と、前記コンピュータおよび前記パターン発生手段と通信することができ、前記パターン発生手段からの電気パターンに応じて光パターンを発生する、電子光学式手段とを備えるシステムで、他の電気パターンと比較する、比較手段を備える。

請求項（抜粋）：

電子コンピュータと、前記コンピュータと通信することができ、電気パターンを発生する、パターン発生手段と、前記コンピュータおよび前記パターン発生手段と通信することができ、前記パターン発生手段からの電気パターンに応じて光パターンを発生する、電子光学式手段とを備えるシステム。

IPC (3件)：

G01R 31/3183 ,  G01R 31/26 ,  H04B 10/08

FI (2件)：

G01R 31/28 Q ,  H04B 9/00 K

引用特許：

審査官引用 (9件)

• 特開平1-160237
  
• 特開平3-231527
  
• 光インタフェースの送受信部同時測定システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-295028   出願人：日本電気株式会社
• 無線通信装置及び試験送信機
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-235131   出願人：日本電気株式会社
• 特開平4-346039
  
• 特開平4-275476
  
• 特開平4-248424
  
• 特開平4-249721
  
• 特開昭61-163736