特許
J-GLOBAL ID:200903053551473939
電子管の動作方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鈴木 弘男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-029731
公開番号(公開出願番号):特開平11-232995
出願日: 1998年02月12日
公開日(公表日): 1999年08月27日
要約:
【要約】【課題】 本発明は、管内の真空度が十分に高くならず正イオンの発生が多い工程中において、電子放出領域を保護することができ、エミッション電流の劣化を防止することができる電子管の動作方法を提供することを目的とする。【解決手段】 基板の上に形成した先鋭な先端を持つエミッタと、該エミッタを取り囲むゲート電極と、複数の前記エミッタと複数の前記ゲート電極とよりなる電子放出領域を取り囲み、前記エミッタおよび前記ゲート電極とから絶縁された周辺の電極とで構成された電子管の動作方法において、前記ゲート電極に印加する電圧よりも前記周辺の電極に印加する電圧を低くした。
請求項(抜粋):
基板の上に形成した先鋭な先端を持つエミッタと、該エミッタを取り囲むゲート電極と、複数の前記エミッタと複数の前記ゲート電極とよりなる電子放出領域を取り囲み、前記エミッタおよび前記ゲート電極とから絶縁された周辺電極とで構成された電子管の動作方法において、前記ゲート電極に印加する電圧よりも前記周辺電極に印加する電圧を低くしたことを特徴とする電子管の動作方法。
IPC (4件):
H01J 1/30
, H01J 9/44
, H01J 23/06
, H01J 29/04
FI (4件):
H01J 1/30 F
, H01J 9/44 A
, H01J 23/06
, H01J 29/04
引用特許: