特許
J-GLOBAL ID：200903053893354621
積層型電子部品
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
前田 均
, 西出 眞吾
, 大倉 宏一郎
, 佐藤 美樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-346855
公開番号（公開出願番号）：特開2007-157769
出願日： 2005年11月30日
公開日（公表日）： 2007年06月21日
要約：
【課題】誘電体層を薄層、多層化した場合においても、層間剥離現象(デラミネーション)などの構造欠陥が有効に防止され、信頼性の高い積層型電子部品を提供すること。【解決手段】内部電極層と内側誘電体層とが交互に積層された内層部と、前記内層部の積層方向の両端面に配置され、外側誘電体層からなる外層部と、を有する積層型電子部品であって、前記内側誘電体層および前記外側誘電体層が、それぞれ、誘電体酸化物を含む主成分と、添加成分と、を含有しており、添加成分のCV値に関し、前記外側誘電体層の添加成分のCV値が、前記内側誘電体層の添加成分のCV値よりも大きくなっていることを特徴とする積層型電子部品。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
内部電極層と内側誘電体層とが交互に積層された内層部と、
前記内層部の積層方向の両端面に配置され、外側誘電体層からなる外層部と、を有する積層型電子部品であって、
前記内側誘電体層および前記外側誘電体層が、それぞれ、誘電体酸化物を含む主成分と、添加成分と、を含有しており、
下記式(1)で表される添加成分のCV値に関し、前記外側誘電体層の添加成分のCV値が、前記内側誘電体層の添加成分のCV値よりも大きくなっていることを特徴とする積層型電子部品。
添加成分のCV値[%]=(添加成分の検出強度の標準偏差σ/添加成分の平均検出強度x)×100...(1)
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01G4/12 358
, H01G4/30 301E
5E001AB03
, 5E001AD02
, 5E001AE01
, 5E001AE02
, 5E001AJ02
, 5E082AB03
, 5E082FF05
, 5E082FG26
, 5E082FG54
