特許
J-GLOBAL ID：200903053902544129

複数の三次元形状計測装置の座標系を一致させる方法

発明者：
中辻 敦忠

中辻 敦忠 について


出願人/特許権者：
日本電気エンジニアリング株式会社

日本電気エンジニアリング株式会社 について


代理人 (3件)： 机 昌彦 ,  河合 信明 ,  谷澤 靖久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-013852
公開番号（公開出願番号）：特開2005-121674
出願日： 2005年01月21日
公開日（公表日）： 2005年05月12日
要約：
【課題】 2台以上の三次元形状計測装置を用いて計測する場合の各三次元形状計測装置の原点と座標軸を一致させる。【解決手段】 形状が分かっている校正用立体物120(表面上に黒ラインの塗装がある平面板)を複数の三次元形状計測装置103、104、105、106で計測して、各三次元形状計測装置の当てはめ平面方程式を求める。次に、各当てはめ平面方程式の原点・座標軸に座標変換を施すための回転行列R113と平行ベクトルT112を求め、複数の三次元形状計測装置の原点・座標軸からなる座標系110、111を1つの三次元形状計測装置の座標と一致させる。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
各々独自の原点と座標軸とからなる座標系を有する複数の三次元形状計測装置から計測可能な位置に、一の被測定面または相対位置が既知の2以上の被測定面を有する校正用立体物を配置し、各三次元形状計測装置によって前記被測定面上の異なる3点以上について計測して各点の三次元位置を求め、計測した値から被測定面の当てはめ面方程式を算出し、各当てはめ面の対象となった被測定面相互間の位置関係から一の当てはめ面方程式の座標系により他の当てはめ面方程式の座標変換を行うことを特徴とする複数の三次元形状計測装置の座標系を一致させる方法。
IPC (3件)：
G01B11/00 ,  G06T1/00 ,  G06T7/60
FI (3件)：
G01B11/00 A ,  G06T1/00 315 ,  G06T7/60 150B
Fターム (37件)：
2F065AA04 ,  2F065AA12 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065GG04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ38 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057BA29 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CC01 ,  5B057CD01 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5B057DC22 ,  5L096AA02 ,  5L096AA06 ,  5L096AA09 ,  5L096CA05 ,  5L096FA02 ,  5L096FA69
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (1件)
  • 特開平1-119708

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