特許
J-GLOBAL ID：200903053909460966
試錐孔情報管理システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
香取 孝雄
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-505633
公開番号（公開出願番号）：特表2006-522883
出願日： 2004年04月07日
公開日（公表日）： 2006年10月05日
要約：
本発明は、試錐孔に関する情報を管理する方法およびシステムに関するものである。本発明はさらに、この方法およびシステムによって利用される識別装置に関するものである。識別装置(5)は、機械読み取り可能な情報を含み、調査中の試錐孔(2)に対して配設される。この読み取り可能な情報は、識別コード、または、識別装置(5)に記憶される試錐孔(2)に関する測定情報でよい。
請求項（抜粋）：
少なくとも1つの試錐孔(2)に関する情報を収集して記憶することを含む試錐孔情報管理方法において、該方法は、
機械読み取り可能な情報を含む少なくとも1つの識別装置(5)を、調査中の試錐孔(2)に対して配設し、
前記記憶した情報、および該調査中の試錐孔(2)を、該識別装置(5)から読み取られる情報によって共に関係付けることを特徴とする試錐孔情報管理方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (3件)：
5B072CC24
, 5B072CC27
, 5B072CC39
