特許
J-GLOBAL ID：200903054128409457
ひび割れ画像計測による構造物の損傷度評価システム及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
久寶 聡博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-219418
公開番号（公開出願番号）：特開2003-035528
出願日： 2001年07月19日
公開日（公表日）： 2003年02月07日
要約：
【要約】【目的】RC構造物表面に生じているひび割れに基づいて該RC構造物の損傷度を信頼性のある形で客観的かつ定量的に評価する。【構成】本発明に係るひび割れ画像計測による構造物の損傷度評価システム31は、撮像手段としてのデジタルカメラ32と、該デジタルカメラで得られた画像データを画像処理してひび割れを抽出する画像処理部33と、該画像処理部で得られた画像を処理して所定の演算処理を行う演算処理部34とから概ね構成してある。
請求項（抜粋）：
ひび割れ計測の対象となる構造物の表面を撮像する撮像手段と、該撮像手段で得られた画像データを画像処理してひび割れを抽出する画像処理部と、該画像処理部における画像処理によって前記ひび割れの位置、数、幅、角度、長さ、間隔等のひび割れ属性データを分析取得するとともに該ひび割れ属性データを用いて前記構造物の損傷度を評価するようになっている演算処理部とを備えたことを特徴とするひび割れ画像計測による構造物の損傷度評価システム。
Fターム (10件)：
2F065AA49
, 2F065AA61
, 2F065CC14
, 2F065FF04
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065QQ04
, 2F065QQ08
, 2F065QQ32
, 2F065RR05
