特許
J-GLOBAL ID:200903054211597613

極値紫外線リソグラフィー(EUVL)の多層構造

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 伊東 忠彦 ,  大貫 進介 ,  伊東 忠重
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-586358
公開番号(公開出願番号):特表2004-532413
出願日: 2002年04月23日
公開日(公表日): 2004年10月21日
要約:
軟X線及び極値紫外線領域で使用される、Mo/Si(モリブデン/シリコン)多層フィルムの反射率及び熱安定性は、MoとSiの交互の層間における炭化ホウ素(例えば、B4C)の薄い層の沈着によって増強される。これは、軟X線及び極値光紫外線における反射性コーティング、マスクにおける多層、他の波長におけるコーティング及び純粋なMo/Si多層よりも熱的に安定なマスクにおける多層において有用である。
請求項(抜粋):
吸収層とスペーサー層の交互の層と、及び 前記吸収層の各々と前記スペーサー層の各々との間に位置する界面層とを有し、 前記界面層は、前記吸収層と前記スペーサー層との間の界面反応を制御する物質を含むことを特徴とする、極値紫外線リソグラフィーの多層構造。
IPC (3件):
G21K1/06 ,  G03F7/20 ,  H01L21/027
FI (5件):
G21K1/06 B ,  G21K1/06 C ,  G21K1/06 D ,  G03F7/20 521 ,  H01L21/30 531E
Fターム (2件):
5F046GA03 ,  5F046GB01
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 多層膜X線反射鏡
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-033249   出願人:日本電信電話株式会社
  • 特開平2-242201
  • 極端紫外光学素子用のキャッピング層
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-195020   出願人:エイエスエムリトグラフィーベスローテンフエンノートシャップ

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