光透過率測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：猪熊克彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-209327
公開番号（公開出願番号）：特開平10-038803
出願日： 1996年07月19日
公開日（公表日）： 1998年02月13日
要約：

【要約】【課題】試料表面などでの反射光が信号光に混入することがなく、しかも光の利用効率も十分に高い光透過率測定装置を提供する。【解決手段】光源1から出射した光束を偏光子3を通すことにより所望の直線偏光とし、該所望の直線偏光状態を持つ光束の一部を透過または反射するビームスプリッター4へ入射し、前記ビームスプリッター4を透過し又は反射した光束を試料7及び1/4波長板8の順に透過して反射鏡9に入射し、該反射鏡9によって反射した光束を前記1/4波長板8及び前記試料7の順に透過して前記ビームスプリッター4に入射し、該ビームスプリッター4によって反射し又は透過した光束を、前記1/4波長板を2度通過した光束を透過するように配置された検光子10及び検出器12の順に入射させて光を検出する。

請求項（抜粋）：

光源から出射した光束を偏光子を通すことにより所望の直線偏光とし、該所望の直線偏光状態を持つ光束の一部を透過または反射するビームスプリッターへ入射し、前記ビームスプリッターを透過し又は反射した光束を試料及び1/4波長板の順に透過して反射鏡に入射し、該反射鏡によって反射した光束を前記1/4波長板及び前記試料の順に透過して前記ビームスプリッターに入射し、該ビームスプリッターによって反射し又は透過した光束を、前記1/4波長板を2度通過した光束を透過するように配置された検光子及び検出器の順に入射させて光を検出する光透過率測定装置。

IPC (4件)：

G01N 21/59 , G01N 21/01 , G01N 21/27 , G01N 21/21

FI (4件)：

G01N 21/59 Z , G01N 21/01 D , G01N 21/27 Z , G01N 21/21 Z

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開平3-225207
自動化学分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-249397 出願人：株式会社日立製作所
光ファイバの非線形屈折率の計測法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-009548 出願人：株式会社フジクラ

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