特許
J-GLOBAL ID：200903054863038144
対向している部品間の隙間とずれ量を測定する方式
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
石田 敬 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-332170
公開番号（公開出願番号）：特開平11-183134
出願日： 1997年12月02日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：
【要約】【課題】 2つの対向している部品間の隙間とずれ量を測定するための改善された方法と器具を提供する。【解決手段】 光学的な三角測量によって隙間とずれ量を測定する方式は、2つの輝度線を形成するように、特徴とされる部品1,2上に2つの平行な光の平面を投射する。部品の3次元の輪郭が、輝度線に沿って計算される。それから、これらの生の数値が、光の平面間の離間距離と、ある輝度線から別の輝度までの部品の1つの輪郭の基準の点の位置の変化とを参照して修正される。
請求項（抜粋）：
2つの対向している部品の表面間の隙間とずれ量とを測定する方式において、-2つの部品の縁を横断して、それぞれに延びている2つの輝度線を作るように、2つの平行で、平板状の光が部品上に投射され、-これらの2つの輝度線がカメラによって検知され、-3次元の表面の輪郭が、それぞれの輝度線に沿って計算され、-2つの部品の表面間の隙間(J* )とずれ量(A* )の生の数値が、これら2つの輪郭の少くとも1つから計算され、かつ-隙間及び/又はずれ量の生の数値が、器具の回動を補償するために、前記生の数値、2つの光の平面間の離間距離(Δx)及び2つの輪郭の1つの基準の点の位置と他の輪郭の対応する基準の点の位置との間の差を使用して計算を行うことにより、修正されることより構成される隙間とずれ量を測定する方式。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/14 H
, G01B 11/02 H
