特許
J-GLOBAL ID：200903055212846214
微弱放射性物質を利用した数値特定装置と確率が変更可能なパルス発生装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-216435
公開番号（公開出願番号）：特開平9-028899
出願日： 1995年07月24日
公開日（公表日）： 1997年02月04日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 偏りのない、不正の出来ないランダムパルス発生装置を提供する。【解決手段】 微弱な放射性物質30に対して所定の被爆立体角wを占有すると共に、粒子をそのエネルギーに対応した電気信号に変換する半導体素子と、時定数信号を発生させる増幅回路と、この時定数信号が粒子に対応した強度のものを弁別する波高弁別器32と、弁別された信号を計数する計測回路36と、この計数回路36に対して、計数時間を変更可能に設定する設定回路33と、目標の確率の値を任意に設定可能とする回路と、計数値と基準値とを比較し一致時にパルスを出力する比較回路38と、放射性物質と半導体検出素子の距離を調整し被爆立体角を変化させる機構とから構成した。更に、カード及びセキュリティ機能においては、α線等のそれぞれの半減期に基づく崩壊の割合を測定して現在測定中のランダムパルス発生器がオリジナルか否か判定できるように構成した。
請求項（抜粋）：
所定の崩壊定数λに従い時間の経過とともに放射線を放射して崩壊する放射性物質について、放射線のα、β、γ線を所定のエネルギーレベルを保有する粒子として捕え、これらの粒子の放射分布が指数関数の分布に従う点と、放射される前記粒子の個数がある時間区間でk個である確率Pkはポアソンの分布式で表示される点と、前記粒子の個数kが一定の確率に従ってランダムに放射される点と、検出した粒子によりパルスを発生すればランダムなパルスを作成できる点とに着目し、予め設定した一定の確率を与える基準値と検出した粒子数とを比較し、これらが一致した時当たりパルスを発生させるランダムパルス発生装置において、微弱な放射性物質と、この放射性物質に対面して配置され所定の被爆立体角を占有するとともに、前記粒子をそのエネルギーレベルに対応した強度の電気信号に変換して検出する半導体検出素子と、この電気信号から時定数信号を発生させて増幅する増幅回路と、この時定数信号が前記粒子に対応した強度範囲のエネルギーレベルであるものを弁別する波高弁別器と、前記弁別された信号を前記粒子の個数として計数し保持する計数回路と、この計数回路に対して計数動作を継続させる計数時間をプログラミングにより設定する設定回路と、目標の確率を与える基準値をプログラミングにより設定するメモリと、前記計数時間内に前記計数回路に保持された計数値と前記基準値とを比較し一致したらパルスを出力する比較回路と、前記放射性物質と半導体検出素子との間の距離を調整して前記被爆立体角を変化させる調整機構とからなり、前記計数時間と前記基準値を目標確率に合わせてそれぞれ固定し、前記計数回路に保持された計数値が目標確率に対応する前記基準値になるように前記調整機構により前記放射性物質と半導体検出素子との間の距離を調整して前記被爆立体角を変化し、半導体検出素子が受ける前記放射粒子数を変化させて、目標の確率を得るようにしたことを特徴とする確率が変更可能なパルス発生装置。
IPC (2件)：
A63F 7/02 333
, G06F 7/58
A63F 7/02 333 Z
, G06F 7/58 A
