特許
J-GLOBAL ID：200903055244989645

粒度分布測定装置

発明者：
深井 秋博

深井 秋博 について

, 
十時 慎一郎

十時 慎一郎 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (2件)： 喜多 俊文 ,  江口 裕之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-284615
公開番号（公開出願番号）：特開2006-098212
出願日： 2004年09月29日
公開日（公表日）： 2006年04月13日
要約：
【課題】被測定試料を含む媒液の循環機構や攪拌機構を不要にして構成を簡単にする。【解決手段】 鉛直方向を長くした試料セルの下部にレーザ光を照射し、その散乱光の空間強度分布から粒度分布を測定するようにする。いったん測定セル内の粒子を均一に分散させてから試料セルを静置して散乱光の測定を開始する。測定時間をt秒とし、粒子径の最も大きい粒子D3がt秒間に沈降する距離をX3とすると、それより小さな粒子D2とD1はX3より小さな距離X2とX1だけしか沈降しない。したがって距離X3より下側のレーザ照射部での粒度分布は偏りがなく、粒子沈降の影響を受けずに粒子群全体の正確な粒度分布を測定することができる。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
測定セル内の液体中に分散させた粒子にレーザ光を照射し該粒子によって散乱される散乱光の空間強度分布を測定して該粒子の粒度分布を算出する粒度分布測定装置において、粒子の最大沈降速度と測定に要する時間とから導かれる粒子の最大沈降距離よりも前記測定セルの鉛直方向の長さを長くしたことを特徴とする粒度分布測定装置。
IPC (1件)：
G01N 15/02
FI (1件)：
G01N15/02 A
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (13件)
  • 粒子サイズの分布を特定するための装置及び方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-196933   出願人：マルベルンインスツルメンツリミテッド
  • 特開昭62-036539
  • 特開昭62-036539
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引用文献：
出願人引用 (1件)
  • 現場で役立つ粒子径計測技術, 20011026, p94
審査官引用 (4件)
  • 現場で役立つ粒子径計測技術, 20011026, p94
  • 現場で役立つ粒子径計測技術, 20011026, p94
  • 現場で役立つ粒子径計測技術, 20011026, p94
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