特許
J-GLOBAL ID:200903055262663358
距離情報取得装置又はシステム、パターン投影装置、及び、距離情報取得方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鈴江 武彦 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-086158
公開番号(公開出願番号):特開2002-286415
出願日: 2001年03月23日
公開日(公表日): 2002年10月03日
要約:
【要約】【課題】測距エラーを防止すると共に、製造工程の簡略化や管理、キャリブレーションなどの容易化を成し遂げること。【解決手段】パターン投影装置PATにより測距対象である撮像対象Tにパターンを投影し、撮像装置CAM1(CAM2)で撮像した画像から距離情報を取得する技術において、光学的に判別可能な特徴を持つ少なくとも3種類以上のパターン片でサブパターンSP1を構成し、そのサブパターンSP1の組み合わせで得られたパターンP1を用い、コンピュータCOMは、撮像された画像に映っているパターン片の光学的特徴と位置座標に基づいて、上記画像に映っているパターン片それぞれが上記パターンP1中のどのサブパターンSP1に属するパターン片かの対応を特定し、その特定結果を利用して、上記撮像対象Tまでの距離情報を算出する。
請求項(抜粋):
所定のパターンを投影された撮像対象を撮像し、撮像された画像を解析することにより、前記撮像対象までの距離情報を取得する距離情報取得装置において、光学的に判別可能な特徴をもつ少なくとも3種類以上の要素で要素群が構成され、前記要素群の組み合わせで得られたパターンを前記撮像対象に投影するパターン投影手段と、前記パターン投影手段から所定の距離離れて設置され、前記パターンが投影されている撮像対象を撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像された画像に映っている要素の光学的特徴と位置座標とに基づいて、前記画像に映っている要素それぞれが前記パターン中のどの要素群に属する要素かの対応を特定する対応特定手段と、を具備し、前記対応特定手段の特定結果を利用して前記撮像対象までの距離情報を算出する距離情報取得装置。
IPC (2件):
G01B 11/00
, G06T 1/00 315
FI (2件):
G01B 11/00 B
, G06T 1/00 315
Fターム (24件):
2F065AA02
, 2F065BB02
, 2F065BB05
, 2F065BB29
, 2F065EE05
, 2F065FF05
, 2F065FF07
, 2F065FF24
, 2F065GG01
, 2F065HH07
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065QQ21
, 2F065QQ25
, 2F065QQ32
, 5B057AA20
, 5B057BA02
, 5B057DA17
, 5B057DB03
, 5B057DB09
, 5B057DC22
, 5B057DC30
, 5B057DC33
引用特許:
審査官引用 (5件)
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3次元情報入力カメラ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-100635
出願人:ミノルタ株式会社
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3次元計測方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-221186
出願人:シャープ株式会社
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特開昭59-182689
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物体の三次元形状計測方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-192452
出願人:富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
-
特開平4-098106
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