肌評価方法及び肌評価装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：山本尚 , 中山千里
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-375392
公開番号（公開出願番号）：特開2006-180971
出願日： 2004年12月27日
公開日（公表日）： 2006年07月13日
要約：

【課題】採取された画像がある程度不明瞭な場合・画像の採取装置の個体差が大きい場合でも、肌の状態の評価が可能な肌評価方法及び肌評価装置を提供する。【解決手段】指紋センサから入力された(S1)画像の一部を切り出し(S3)、二次の線形予測分析を用いて基本周波数を算出する(S5)。そして、x方向の基本周波数とy方向についての基本周波数の合計値Sを算出して、キメの細かさの判定尺度とする(S7)。予め用意した閾値とS7で求めた尺度Sを比較して、肌の状態のキメの細かさを3段階に評価する(S9〜S17)。さらに、対象画像のx方向とy方向の基本周波数の比を算出してキメの流れに関する評価尺度とし(S19)、画像を回転して同様の評価尺度を求め、これらに基づいてキメの流れを2段階に判定する(S31〜S35)。以上のキメの細かさと流れについての判定結果を表示画面に表示する(S37)。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

入力された肌の画像を周波数分析し、その周波数分析の結果得られた前記肌画像の周波数特徴に基づいて前記肌の状態を判定する肌評価方法。

IPC (2件)：

A61B 5/107 , A61B 5/00

FI (2件)：

A61B5/10 300Q , A61B5/00 M

Fターム (24件)：

4C038FG00 , 4C038FG01 , 4C038VA04 , 4C038VB22 , 4C038VB23 , 4C038VC20 , 4C117XA05 , 4C117XB13 , 4C117XD05 , 4C117XD17 , 4C117XE43 , 4C117XG22 , 4C117XG34 , 4C117XG36 , 4C117XG38 , 4C117XJ01 , 4C117XJ05 , 4C117XJ13 , 4C117XJ38 , 4C117XJ48 , 4C117XK09 , 4C117XP04 , 4C117XP05 , 4C117XP06

引用特許：

出願人引用 (2件)

特許第3351958号公報
皮膚のキメ粗さの測定方法およびキメ粗さ評価用キット
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-358037 出願人：ライオン株式会社

審査官引用 (7件)

特開平2-082947
シワの測定方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-263654 出願人：株式会社資生堂
特開平4-305113

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