特許
J-GLOBAL ID:200903055489555420

分光方法及び分光装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤谷 修
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-286430
公開番号(公開出願番号):特開2007-093529
出願日: 2005年09月30日
公開日(公表日): 2007年04月12日
要約:
【課題】パルスレーザ装置を用いることなく、連続レーザ装置によって、リングダウン分光を行えるようにすること。【解決手段】方向性光結合素子36はP偏光に対してのみ光結合している。第2偏光子21はS偏光成分のみを出力し、第1偏光子22はP偏光のみを通過させる素子である。ファラデー偏光子23にパルス磁場が印加されると、この印加期間だけS偏光からP偏光に90度位相が回転し、偏光子23の出力では、パルスP偏光が得られその期間外は連続したS偏光となる。このパルスP偏光レーザ光は方向性光結合素子36に入射して、光ファイバー10に分岐されて、光ファイバー10を循環し、リングダウンパルス光が得られ方向性光結合素子36を介して一部の光が第1光伝送路12側に分岐される。第1偏光子22は、P偏光のみ通過させるので、このP偏光のリングダウンパルス光は、受光素子32に入射する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
試料の光吸収特性を測定する分光方法において、 光吸収特性を測定すべき試料に光を導く光ファイバーと、連続光を伝搬させる第1光伝送路とを光結合させ、この光結合をステップ的に、又は、パルス的に変化させることで、ステップ的に、又は、パルス的に変化する光を前記光ファイバーに導入し、前記光ファイバーを循環又は往復移動するリングダウン光を外部に出力してこのリングダウン光の減衰特性から試料の吸収特性を測定することを特徴とする分光方法。
IPC (2件):
G01N 21/27 ,  G01J 3/42
FI (2件):
G01N21/27 Z ,  G01J3/42 U
Fターム (20件):
2G020BA05 ,  2G020CA02 ,  2G020CA14 ,  2G020CB23 ,  2G020CD03 ,  2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB10 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK01
引用特許:
出願人引用 (4件)
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