特許
J-GLOBAL ID：200903055717058067
評価方法及びその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
大塚 康徳
, 高柳 司郎
, 大塚 康弘
, 木村 秀二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-082709
公開番号（公開出願番号）：特開2006-266763
出願日： 2005年03月22日
公開日（公表日）： 2006年10月05日
要約：
【課題】 主観的な光沢感と相関の高い光沢感評価値および光沢ムラ評価値を算出することができる評価方法及び装置を提供する。【解決手段】 物体の変角反射光分布特性を測定装置によって測定する。その測定結果に基づいて、物体の光沢特性を評価するための評価パラメータを抽出する。抽出した評価パラメータに基づいて、前記物体の光沢特性を示す評価値を算出する。算出した評価値を、前記評価パラメータで規定される少なくとも2次元の空間上で可視表示する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
画像処理装置によって、物体の光沢特性を評価する評価方法であって、
前記物体の変角反射光分布特性を測定装置によって測定する測定工程と、
前記測定工程による測定結果に基づいて、前記物体の光沢特性を評価するための評価パラメータを抽出する抽出工程と、
前記抽出工程で抽出した評価パラメータに基づいて、前記物体の光沢特性を示す評価値を算出する算出工程と、
前記算出工程で算出した評価値を、前記評価パラメータで規定される少なくとも2次元の空間上で可視表示する表示工程と
を備えることを特徴とする評価方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (4件)：
2G059AA02
, 2G059BB10
, 2G059EE02
, 2G059MM01
出願人引用 (1件)
-
光沢評価方法および装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2003-107219
出願人：富士ゼロックス株式会社
審査官引用 (3件)
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