特許
J-GLOBAL ID:200903055838923806

画像による粒子測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 野河 信太郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-082347
公開番号(公開出願番号):特開2001-272328
出願日: 2000年03月23日
公開日(公表日): 2001年10月05日
要約:
【要約】【課題】 粒子を能率よく測定すること。【解決手段】 液体に含まれた複数の粒子を並列に流すことが可能なフローセルと、フローセルに流れる複数の粒子を交差する2軸方向から同時に撮像する第1および第2撮像部と、第1および第2撮像部によって撮像された第1および第2画像を解析する解析部とを備え、解析部は第1画像中の粒子と、第2画像中の粒子とを互いに対応づけて同一粒子を特定し、特定された各同一粒子の特徴を第1および第2画像から得られる粒子画像データを用いて算出することを特徴とする。
請求項(抜粋):
液体に含まれた複数の粒子を並列に流すことが可能なフローセルと、フローセルに流れる複数の粒子を交差する2軸方向から実質的に同時に撮像する第1および第2撮像部と、第1および第2撮像部によって撮像された第1および第2画像を解析する解析部とを備え、解析部は第1画像中の粒子と、第2画像中の粒子とを互いに対応づけて同一粒子を特定し、特定された各同一粒子の特徴を第1および第2画像から得られる粒子画像データを用いて算出することを特徴とする粒子測定装置。
IPC (4件):
G01N 15/14 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G01N 21/47
FI (5件):
G01N 15/14 D ,  G01N 15/14 B ,  G01B 11/00 H ,  G01N 21/47 Z ,  G01B 11/24 K
Fターム (39件):
2F065AA04 ,  2F065AA26 ,  2F065AA51 ,  2F065BB07 ,  2F065BB15 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL12 ,  2F065LL21 ,  2F065LL30 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ32 ,  2F065QQ43 ,  2F065SS13 ,  2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059CC19 ,  2G059DD12 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059KK04 ,  2G059MM02 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
引用特許:
審査官引用 (9件)
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