特許
J-GLOBAL ID:200903055838923806
画像による粒子測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
野河 信太郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-082347
公開番号(公開出願番号):特開2001-272328
出願日: 2000年03月23日
公開日(公表日): 2001年10月05日
要約:
【要約】【課題】 粒子を能率よく測定すること。【解決手段】 液体に含まれた複数の粒子を並列に流すことが可能なフローセルと、フローセルに流れる複数の粒子を交差する2軸方向から同時に撮像する第1および第2撮像部と、第1および第2撮像部によって撮像された第1および第2画像を解析する解析部とを備え、解析部は第1画像中の粒子と、第2画像中の粒子とを互いに対応づけて同一粒子を特定し、特定された各同一粒子の特徴を第1および第2画像から得られる粒子画像データを用いて算出することを特徴とする。
請求項(抜粋):
液体に含まれた複数の粒子を並列に流すことが可能なフローセルと、フローセルに流れる複数の粒子を交差する2軸方向から実質的に同時に撮像する第1および第2撮像部と、第1および第2撮像部によって撮像された第1および第2画像を解析する解析部とを備え、解析部は第1画像中の粒子と、第2画像中の粒子とを互いに対応づけて同一粒子を特定し、特定された各同一粒子の特徴を第1および第2画像から得られる粒子画像データを用いて算出することを特徴とする粒子測定装置。
IPC (4件):
G01N 15/14
, G01B 11/00
, G01B 11/24
, G01N 21/47
FI (5件):
G01N 15/14 D
, G01N 15/14 B
, G01B 11/00 H
, G01N 21/47 Z
, G01B 11/24 K
Fターム (39件):
2F065AA04
, 2F065AA26
, 2F065AA51
, 2F065BB07
, 2F065BB15
, 2F065DD06
, 2F065FF04
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065LL12
, 2F065LL21
, 2F065LL30
, 2F065QQ03
, 2F065QQ08
, 2F065QQ21
, 2F065QQ25
, 2F065QQ29
, 2F065QQ32
, 2F065QQ43
, 2F065SS13
, 2G059AA05
, 2G059BB04
, 2G059CC19
, 2G059DD12
, 2G059EE02
, 2G059GG01
, 2G059GG03
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059KK04
, 2G059MM02
, 2G059MM05
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 2G059PP04
引用特許:
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