特許
J-GLOBAL ID：200903056146474080
温度特性試験装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
景山 憲二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-008281
公開番号（公開出願番号）：特開2002-214270
出願日： 2001年01月16日
公開日（公表日）： 2002年07月31日
要約：
【要約】【課題】 電気部品から成る被試験物を迅速に精度良く均一に加熱でき、又電気的特性を試験する場合に、接触面への被試験物の装着と電気的導通を簡単に且つ短時間で行い、特に被試験物が水晶発振器である場合に、その温度補正を低コストの下に精度良く且つ能率良く行う。【解決手段】 水晶発振器温度補正装置は、熱媒液流路21、水晶発振器1が乗せられて接触する接触面22、囲壁部23、等を備えた伝熱プレート2、本体部31、支持ピン31aに回転自在に支持されたコンタクトピン32及びこれを閉じる方向に付勢する捩じりバネ33を備えたソケット3、等を有する。【効果】 特に水晶発振器の温度補正試験を低コストで精度良く且つ能率良く行うことができる。
請求項（抜粋）：
導電部材を介して外部と電気的に導通されて試験される被試験物に試験されるべき温度を与える温度条件付与手段を有する温度特性試験装置において、前記温度条件付与手段は、前記被試験物が乗せられて接触する接触面と前記被試験物の周囲を囲う囲壁部と熱媒体が流されて前記温度を与えるように形成された伝熱部であって前記導電部材の前記外部の側である他端側部分が通過する貫通部が形成された伝熱部とを備えた伝熱プレートを有することを特徴とする温度特性試験装置。
IPC (4件)：
G01R 29/22
, G01R 1/073
, G01R 31/26
, H01R 33/76 503
G01R 29/22 B
, G01R 1/073 B
, G01R 31/26 H
, G01R 31/26 J
, H01R 33/76 503 Z
2G003AA07
, 2G003AC03
, 2G003AD03
, 2G003AG01
, 2G003AG11
, 2G003AH04
, 2G003AH05
, 2G011AA14
, 2G011AC00
, 2G011AE02
, 2G011AF02
, 2G011AF07
, 5E024CA13
, 5E024CB10
