選択した障害に関する障害情報を捕捉する集積回路試験用の方法および組込み型自己試験装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：合田潔 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-239194
公開番号（公開出願番号）：特開平9-127206
出願日： 1996年09月10日
公開日（公表日）： 1997年05月16日
要約：

【要約】【課題】選択された障害に関する障害データの捕捉を可能にする、集積回路を試験するための組込み型自己試験(BIST)装置および方法を提供する。【解決手段】 BIST装置は、少なくとも第1のクロック信号を生成するクロック生成機構と、第1のクロック信号に応答して集積回路に所定の入力データ・パターンを印加する組込み型自己試験装置とを含む。さらに、BIST装置は、集積回路から受け取った出力データを、期待出力データと比較するデータ比較器を含む。データ比較器は、集積回路から受け取った出力データが期待出力データと異なるとき、集積回路内の障害を検出する。BIST装置はさらに、選択された障害発生の検出に応答して第1のクロック信号をディスエーブルするクロック制御装置を含む。選択した障害が発生した場合に集積回路の検査を停止できるようにすることによって、集積回路の障害分析が強化される。

請求項（抜粋）：

組込み型自己試験回路を備えた集積回路であって、電気回路が内部に形成された半導体基板と、前記半導体基板内にあって、少なくとも第1のクロック信号を生成するクロック生成機構と、前記半導体基板内にあって、前記第1のクロック信号に応答して所定の入力データ・パターンを前記電気回路に印加する組込み型自己試験装置と、前記半導体基板内にあって、前記電気回路から受け取った出力データを期待出力データと比較し、前記電気回路から受け取った前記出力データと前記期待出力データが異なるときにエラーを検出するデータ比較器と、前記半導体基板内にあって、選択したエラーの発生の検出に応答して前記第1のクロック信号をディスエーブルするクロック制御装置とを備える、障害分析が強化された集積回路。

IPC (2件)：

G01R 31/28 , G06F 11/22 360

FI (2件)：

G01R 31/28 V , G06F 11/22 360 A

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平4-178580
IC試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-339428 出願人：日立電子エンジニアリング株式会社, 株式会社日立マイコンシステム
半導体装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-325122 出願人：日本電気アイシーマイコンシステム株式会社

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