特許
J-GLOBAL ID:200903056350228196
半導体装置及びその製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (10件):
前田 弘
, 小山 廣毅
, 竹内 宏
, 嶋田 高久
, 竹内 祐二
, 今江 克実
, 藤田 篤史
, 二宮 克也
, 原田 智雄
, 井関 勝守
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-226898
公開番号(公開出願番号):特開2005-072571
出願日: 2004年08月03日
公開日(公表日): 2005年03月17日
要約:
【課題】 半導体装置の素子特性を向上させる。【解決手段】 半導体装置は、サファイア基板101上に形成された第1の半導体層よりなる能動層(活性層)105を備えている。能動層(活性層)105には、酸化層よりなる第1の酸化領域が形成されている。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
基板上に形成された第1の半導体層よりなる能動層を備えた半導体装置であって、
前記能動層には、酸化層よりなる第1の酸化領域が形成されていることを特徴する半導体装置。
IPC (3件):
H01L33/00
, H01L29/786
, H01S5/323
FI (3件):
H01L33/00 C
, H01S5/323 610
, H01L29/78 618B
Fターム (31件):
5F041AA24
, 5F041AA44
, 5F041CA12
, 5F041CA40
, 5F041CA65
, 5F041CA74
, 5F041CA77
, 5F041CA85
, 5F041CA88
, 5F110AA06
, 5F110AA11
, 5F110AA30
, 5F110CC01
, 5F110DD04
, 5F110EE02
, 5F110EE03
, 5F110EE14
, 5F110FF01
, 5F110GG04
, 5F110GG19
, 5F110GG25
, 5F110HK02
, 5F110HK03
, 5F110HK04
, 5F110HK22
, 5F110NN62
, 5F173AA08
, 5F173AH22
, 5F173AH44
, 5F173AP33
, 5F173AP67
引用特許:
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