特許
J-GLOBAL ID:200903056350228196

半導体装置及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (10件): 前田 弘 ,  小山 廣毅 ,  竹内 宏 ,  嶋田 高久 ,  竹内 祐二 ,  今江 克実 ,  藤田 篤史 ,  二宮 克也 ,  原田 智雄 ,  井関 勝守
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-226898
公開番号(公開出願番号):特開2005-072571
出願日: 2004年08月03日
公開日(公表日): 2005年03月17日
要約:
【課題】 半導体装置の素子特性を向上させる。【解決手段】 半導体装置は、サファイア基板101上に形成された第1の半導体層よりなる能動層(活性層)105を備えている。能動層(活性層)105には、酸化層よりなる第1の酸化領域が形成されている。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
基板上に形成された第1の半導体層よりなる能動層を備えた半導体装置であって、 前記能動層には、酸化層よりなる第1の酸化領域が形成されていることを特徴する半導体装置。
IPC (3件):
H01L33/00 ,  H01L29/786 ,  H01S5/323
FI (3件):
H01L33/00 C ,  H01S5/323 610 ,  H01L29/78 618B
Fターム (31件):
5F041AA24 ,  5F041AA44 ,  5F041CA12 ,  5F041CA40 ,  5F041CA65 ,  5F041CA74 ,  5F041CA77 ,  5F041CA85 ,  5F041CA88 ,  5F110AA06 ,  5F110AA11 ,  5F110AA30 ,  5F110CC01 ,  5F110DD04 ,  5F110EE02 ,  5F110EE03 ,  5F110EE14 ,  5F110FF01 ,  5F110GG04 ,  5F110GG19 ,  5F110GG25 ,  5F110HK02 ,  5F110HK03 ,  5F110HK04 ,  5F110HK22 ,  5F110NN62 ,  5F173AA08 ,  5F173AH22 ,  5F173AH44 ,  5F173AP33 ,  5F173AP67
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (2件)

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