分光測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小林良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-188199
公開番号（公開出願番号）：特開平9-015046
出願日： 1995年06月30日
公開日（公表日）： 1997年01月17日
要約：

【要約】【目的】光学系で生ずる分光画像の歪みを補正するとともに相対反射率分布を求める。【構成】予め特定の分光強度分布パターンを有する基準試料及び参照試料を測定し、位置補正情報をメモリ203に、参照情報(分光強度分布)をメモリ205に記憶しておく。試料測定時に、位置補正処理部202にて位置歪みを補正した分光画像を求め、反射率演算部204にて該分光画像から計算した分光強度分布と参照情報とに基づき相対反射率を計算する。

請求項（抜粋）：

試料上の一次元領域を分光測定するための分光測定装置において、a)複数の微小受光素子が二次元的に配置された光検出手段と、b)該光検出手段の一つの次元方向に試料の一次元領域像を投影させるとともに他の次元方向に光を分散させるための分光手段と、c)測定対象の試料の分光測定に先立ち、既知の分光強度分布及びパターンを有する基準試料を分光測定することにより求められた、分光強度分布パターンに対応する受光素子の位置情報を位置補正情報として記憶しておくための第1の記憶手段と、d)測定対象の試料の分光測定に先立ち、前記基準試料とは相違する既知の分光強度分布を有する参照試料を分光測定することにより求められた分光強度分布を参照情報として記憶しておくための第2の記憶手段と、e)測定対象の試料を分光測定するに際し、前記第1の記憶手段から読み出した位置補正情報に基づいて各受光素子による検出信号の位置歪みを補正処理するための歪み補正手段と、f)前記測定対象の試料の分光強度分布と前記第2の記憶手段から読み出した参照情報とに基づき相対反射率分布を計算する演算手段と、を備えることを特徴とする分光測定装置。

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平2-226028
ラマン分光光度計
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-011237 出願人：新技術事業団, 市村勉
補正データ生成装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-129104 出願人：松下電器産業株式会社

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