特許
J-GLOBAL ID:200903056632767898

共焦点スリットスキャナを備える、対象物を結像するための走査型顕微鏡

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 加藤 朝道 ,  内田 潔人 ,  三宅 俊男
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-555992
公開番号(公開出願番号):特表2006-510926
出願日: 2003年09月23日
公開日(公表日): 2006年03月30日
要約:
【課題】 高い走査速度と改善されたS/N比で検出する走査顕微鏡の提供。【解決手段】 本発明は、対象物(1)を結像するための走査型顕微鏡であって、光源(2)と、ほぼ無段階に可変調整可能なスペクトル選択素子(8)と、ほぼ無段階に可変調整可能なスペクトル選択性検出装置(4)と、光源(2)から対象物(1)まで延在する照明ビーム路(3)と、対象物(1)から検出装置(4)まで延在する検出ビーム路(5)とを有し、スペクトル選択素子(8)により光源の光が対象物照明のために選択可能であり、スペクトル選択素子(8)により、対象物(1)で反射および/または散乱された光源(2)の選択光が検出ビーム路(5)から分離可能であり、検出ビーム路(5)に延在する光の少なくとも1つの波長領域がスペクトル選択性検出装置(4)により検出可能である走査型顕微鏡に関する。そして対象物(1)を高い走査速度と改善されたS/N比の下で検出するために、照明ビーム路(3)と検出ビーム路(5)とは共焦点スリットスキャナのように構成されている。
請求項(抜粋):
対象物(1)を結像するための走査型顕微鏡であって、光源(2)と、ほぼ無段階に可変調整可能なスペクトル選択素子(8)と、ほぼ無段階に可変調整可能なスペクトル選択性検出装置(4)と、光源(2)から対象物(1)まで延在する照明ビーム路(3)と、対象物(1)から検出装置(4)まで延在する検出ビーム路(5)とを有し、 スペクトル選択素子(8)により光源の光が対象物照明のために選択可能であり、 スペクトル選択素子(8)により、対象物(1)で反射および/または散乱された光源(2)の選択光が検出ビーム路(5)から分離可能であり、 検出ビーム路(5)に延在する光の少なくとも1つの波長領域がスペクトル選択性検出装置(4)により検出可能である形式の走査型顕微鏡において、 照明ビーム路(3)と検出ビーム路(5)とは共焦点スリットスキャナのように構成されている、ことを特徴とする走査型顕微鏡。
IPC (2件):
G02B 21/00 ,  G01N 21/27
FI (2件):
G02B21/00 ,  G01N21/27 E
Fターム (35件):
2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE07 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059FF03 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2H052AA08 ,  2H052AA09 ,  2H052AB25 ,  2H052AC04 ,  2H052AC15 ,  2H052AC16 ,  2H052AC27 ,  2H052AC29 ,  2H052AC34 ,  2H052AD31 ,  2H052AD35 ,  2H052AF07 ,  2H052AF14
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (3件)

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