特許
J-GLOBAL ID：200903056733195488

表面検査用照明装置及び表面検査装置

発明者：
米田 賢治

米田 賢治 について


出願人/特許権者：
シーシーエス株式会社

シーシーエス株式会社 について


代理人 (2件)： 赤澤 一博 ,  久留 徹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-366089
公開番号（公開出願番号）：特開2004-354047
出願日： 2000年11月30日
公開日（公表日）： 2004年12月16日
要約：
【課題】プリント基板のパターン検査等に好適に用いられる表面検査用照明装置において、装置の大型化や高価格化等を招くことなく照明効率の向上を図る。【課題を解決するための手段】検査対象物2の表面一定領域に対して、その前後斜め上方から照明するための一対の発光部材3に加え、ハーフミラー4を介してその直上からも照明可能な第2発光部材5を設けて照明光度を上げるとともに、発光部材3を、縦横に敷設した複数のLED6と、これらLED6の各列にそれぞれ対応させて配置したシリンドリカルレンズ7を具備するものとした。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
側面視検査対象物に向かって広がるハの字型をなすように配設した一対の発光部材を有し、 前記発光部材が、検査対象物を向く面に縦横に敷設した複数のLEDと、これらLEDの各列にそれぞれ対応させて配置したシリンドリカルレンズとを具備し、各列に属するLEDから照射された光が検査対象物の表面一定領域に集まるようにLEDの各列とシリンドリカルレンズとの位置関係を設定したものであることを特徴とする表面検査用照明装置。
IPC (5件)：
G01N21/84 ,  G01N21/956 ,  G02B3/06 ,  G03B15/00 ,  G03B15/02
FI (5件)：
G01N21/84 E ,  G01N21/956 B ,  G02B3/06 ,  G03B15/00 T ,  G03B15/02 C
Fターム (27件)：
2F065AA49 ,  2F065AA61 ,  2F065BB02 ,  2F065CC01 ,  2F065DD05 ,  2F065FF01 ,  2F065GG07 ,  2F065GG14 ,  2F065GG15 ,  2F065HH04 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL08 ,  2F065MM03 ,  2F065PP12 ,  2F065UU01 ,  2G051AA65 ,  2G051BA01 ,  2G051BA20 ,  2G051BB01 ,  2G051BB09 ,  2G051BB11 ,  2G051CA04
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM