特許
J-GLOBAL ID：200903056867952870

自発光表示モジュールおよび同モジュールにおける欠陥状態の検証方法

発明者：
佐藤 一浩

佐藤 一浩 について

, 
村形 昌希

村形 昌希 について

, 
佐藤 宏幸

佐藤 宏幸 について


出願人/特許権者：
東北パイオニア株式会社

東北パイオニア株式会社 について


代理人 (1件)： 木下 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-040981
公開番号（公開出願番号）：特開2005-181951
出願日： 2004年02月18日
公開日（公表日）： 2005年07月07日
要約：
【課題】 例えば表示パネルの画素に欠陥が発生した場合に、早急にユーザに対して報知することができる自発光表示モジュールを提供すること。【解決手段】 自発光表示モジュールに例えば動作電源が投入された時、もしくは動作電源が投入されている状態において定期的に、またはユーザが検知スイッチをオン操作した時などにおいて、表示パネルの画素を含む信号線等に欠陥が発生しているか否かを検証するルーチンが実行される。逆バイアス電圧生成回路5を電流源として利用し、EL素子に非発光方向の電流を加えた時の電流波形により、画素およびこれを含む信号線等の欠陥状態を把握する。欠陥が検出された場合には、欠陥報知手段14が動作する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
電気的な極性を有する自発光素子による画素をマトリクス状に多数配列した発光表示パネルと、前記発光表示パネルにおける各自発光素子を選択的に点灯駆動させるための点灯駆動装置を有する自発光表示モジュールであって、 前記発光表示パネルもしくは前記点灯駆動装置、または前記発光表示パネルと前記点灯駆動装置との接続部の欠陥による発光不具合を検知するための不具合検知手段がさらに備えられていることを特徴とする自発光表示モジュール。
IPC (4件)：
G09G3/30 ,  G09G3/20 ,  H05B33/12 ,  H05B33/14
FI (6件)：
G09G3/30 H ,  G09G3/20 670B ,  G09G3/20 670F ,  G09G3/20 670H ,  H05B33/12 Z ,  H05B33/14 A
Fターム (15件)：
3K007AB11 ,  3K007AB18 ,  3K007BA06 ,  3K007DB03 ,  3K007GA00 ,  5C080AA06 ,  5C080BB05 ,  5C080DD15 ,  5C080DD16 ,  5C080EE29 ,  5C080FF12 ,  5C080JJ02 ,  5C080JJ03 ,  5C080JJ05 ,  5C080JJ07
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 特許第3437152号公報
審査官引用 (5件)
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