特許
J-GLOBAL ID:200903057170369286

Cu-Mg-P系銅合金およびその製造法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 小松 高 ,  和田 憲治
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-241382
公開番号(公開出願番号):特開2007-056297
出願日: 2005年08月23日
公開日(公表日): 2007年03月08日
要約:
【課題】導電性が高く、かつ耐マイグレーション性に優れた銅合金材料を提供する。【解決手段】質量%で、Mg:0.1〜0.4%、P:0.08〜0.35%、Sn:0〜0.4%、かつ下記(1)式あるいはさらに(2)式を満たす組成を有する銅合金。 -0.14≦Mg-1.2P≦0.18 ......(1) Cu+Mg+P+Sn≧99.7 ......(2) 特に、鋳片を750〜900°Cで保持したのち抽出して熱間圧延し、その後、冷間圧延と焼鈍を組み合わせた工程において、400〜600°Cで保持する時効処理を少なくとも1回、中間焼鈍として行うことによりMg-P系化合物を析出させるプロセスで製造することにより、導電率75%IACS以上の材料が得られる。【選択図】なし
請求項(抜粋):
質量%で、Mg:0.1〜0.4%、P:0.08〜0.35%、残部実質的にCu、かつ下記(1)式を満たす組成をもち、導電率が75%IACS以上の銅合金。 -0.14≦Mg-1.2P≦0.18 ......(1)
IPC (4件):
C22C 9/00 ,  C22F 1/08 ,  H01B 1/02 ,  C22C 9/02
FI (5件):
C22C9/00 ,  C22F1/08 B ,  H01B1/02 A ,  C22F1/08 J ,  C22C9/02
Fターム (6件):
5G301AA08 ,  5G301AA12 ,  5G301AA20 ,  5G301AB14 ,  5G301AB20 ,  5G301AD03
引用特許:
出願人引用 (13件)
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審査官引用 (3件)

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