特許
J-GLOBAL ID：200903057239383316

タンデム飛行時間型質量分析装置

発明者：
小林達次

小林達次 について


出願人/特許権者：
日本電子株式会社

日本電子株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-146584
公開番号（公開出願番号）：特開2008-300265
出願日： 2007年06月01日
公開日（公表日）： 2008年12月11日
要約：
【課題】簡単な構成で単一MSモードとタンデムMS/MSモードの切り替え時に生じる時間や試料の無駄を排する。【解決手段】イオン飛行軌道内またはイオン飛行軌道近傍に配置されたイオン検出器と、イオンをイオン飛行軌道近傍の前記イオン検出器に向けて偏向させる偏向器とを第1質量分析装置内に設け、第1質量分析装置内を飛行するイオンを前記イオン飛行軌道内のイオン検出器で順次検出するか、またはイオンを前記偏向器でイオン飛行軌道近傍のイオン検出器に向けて偏向させて順次検出する第1のモードと、第1質量分析装置で分離した所望のイオンのみを第1質量分析装置の後段に置かれた第2質量分析装置で質量分析するとともに、他のイオンは前記偏向器で偏向させて、偏向先に置かれた前記イオン検出器で順次検出する第2のモードとを切り替え可能に備えた。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
飛行時間型質量分析装置を第1質量分析装置とし、第1質量分析装置からのイオンを第2質量分析装置に導入して質量分析するタンデム飛行時間型質量分析装置において、 イオン飛行軌道内またはイオン飛行軌道近傍に配置されたイオン検出器と、イオンをイオン飛行軌道近傍の前記イオン検出器に向けて偏向させる偏向器とを第1質量分析装置内に設け、 第1質量分析装置内を飛行するイオンを前記イオン飛行軌道内のイオン検出器で順次検出するか、またはイオンを前記偏向器でイオン飛行軌道近傍のイオン検出器に向けて偏向させて順次検出する第1のモードと、 第1質量分析装置で分離した所望のイオンのみを第1質量分析装置の後段に置かれた第2質量分析装置で質量分析するとともに、他のイオンは前記偏向器で偏向させて、偏向先に置かれた前記イオン検出器で順次検出する第2のモードと を切り替え可能に備えたことを特徴とするタンデム飛行時間型質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/06
FI (4件)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 E ,  H01J49/06
Fターム (8件)：
2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041GA06 ,  2G041GA07 ,  2G041GA09 ,  2G041GA30 ,  2G041KA01 ,  5C038JJ13
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 国際公開第2005/114702号パンフレット、図14、図15。
審査官引用 (4件)
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