特許
J-GLOBAL ID:200903079731719668
質量分析装置
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小林 良平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-005504
公開番号(公開出願番号):特開2005-203129
出願日: 2004年01月13日
公開日(公表日): 2005年07月28日
要約:
【課題】 高い質量分解能で目的イオンを選別し、その目的イオンを開裂させたイオン断片を分析して分子の構造解析を行う。 【解決手段】 イオン源1で発生させた各種イオンを周回軌道Pに乗せ、周回させる過程で目的イオンとそれ以外のイオンとの差を拡大させ、不要なイオンを偏向電極2により軌道P外に廃棄する。それによって高い質量分解能で以て目的イオンのみを軌道P上に残し、実質的にイオントラップと同様の機能で且つより一層高い性能を実現する。こうして蓄積した純度の高い目的イオンを軌道Pから離脱させ、開裂領域4で開裂させた後に第2飛行空間6に導入し、反射器7により質量数に応じた位置で折り返して検出器8で検出する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
a)イオン源から出発した各種イオンを略同一の周回軌道に沿って1乃至複数回繰り返し飛行させるための飛行空間と、
b)前記周回軌道に沿って飛行しているイオンに対し、特定の時間範囲内に通過しようとするイオンのみにその軌道上の飛行を許可することでイオンを選別するイオン選別手段と、
c)該イオン選別手段により選別されて周回軌道上に残ったイオンが該周回軌道から離脱した後に該イオンの質量数を分析するための質量分析手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (4件):
H01J49/40
, G01N27/62
, H01J49/06
, H01J49/26
FI (4件):
H01J49/40
, G01N27/62 K
, H01J49/06
, H01J49/26
Fターム (6件):
5C038FF10
, 5C038FF13
, 5C038HH02
, 5C038HH05
, 5C038HH09
, 5C038HH26
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
飛行時間型質量分析装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願2000-529737
出願人:シマヅリサーチラボラトリー(ヨーロッパ)リミティド
前のページに戻る