特許
J-GLOBAL ID：200903057277529316
多段型の質量分析計
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山本 秀策
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-519468
公開番号（公開出願番号）：特表2003-507874
出願日： 2000年08月25日
公開日（公表日）： 2003年02月25日
要約：
【要約】高感度で多段型の(MS)質量分析計が開示される。上記質量分析計は、単離段階の間のイオンの損失を無くすことができる。対象となるイオンを、他のm/z値のイオンを低減させることなく、(m/z値だけ)単離させ、これにより、選択されたイオンを解離することを可能にし、かつ、残りのイオン集合を、その後のフラグメントイオンの単離、解離および分析の際に利用可能にすることができる。1つの好適な器具は、質量選択型イオントラップデバイスの線形アレイと結合されたパルス状のイオンソースを含む。少なくとも1つのトラップは、外部のイオン検出器に結合される。各イオントラップは、一対の保護セル間に分散されたイオントラップのための格納セルと共に構成される。上記一対の保護セルは全て、そのz軸に沿って位置調整される。
請求項（抜粋）：
複数の工程の質量分析による分析を行うための装置であって、 イオンパケットを生成するパルス状のイオンソースと、 1つ以上のセルを含む複数の相互接続されたイオントラップであって、該トラップのうち第1のトラップは、該イオンパケットを受け取る、イオントラップと、 該セルの各々に接続された電源であって、該セルの各々においてRF電場が生成され、可変性のDC電位およびAC電位が該セルの各々に印加されるように、RF信号、AC信号およびDC信号の生成および印加を各セルに対して行う、電源と、 該RF信号、該AC信号または該DC信号を調整する手段であって、該トラップのうち該第1のトラップにおける対象となるイオンの選択的サンプリングと、該対象となるイオンの1つ以上の隣接するトラップへの輸送と、該対象となるイオンのフラグメント化とを行い、なおかつ、該選択されなかったイオンの該トラップの少なくとも1つへの格納を可能にする、手段と、 少なくとも1つのトラップのイオンの中身を分析する検出器と、を備える、装置。
IPC (4件)：
H01J 49/26
, G01N 27/62
, H01J 49/40
, H01J 49/42
H01J 49/26
, G01N 27/62 K
, G01N 27/62 L
, H01J 49/40
, H01J 49/42
5C038HH05
, 5C038HH07
, 5C038HH16
, 5C038HH26
, 5C038HH28
, 5C038JJ02
, 5C038JJ06
, 5C038JJ07
, 5C038JJ11
