特許

J-GLOBAL ID：200903057468502507

磁気抵抗素子を利用した荷電粒子放出検出装置およびその方法

発明者： 中山 景次
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-002949
公開番号（公開出願番号）：特開2002-208101
出願日： 2001年01月10日
公開日（公表日）： 2002年07月26日
要約：

【要約】【目的】磁気記録装置において、磁気ヘッドと回転する磁気ディスクの接触面で発生する正、負の荷電粒子の検出装置とその検出方法を提供する【構成】磁気抵抗素子1を備えた磁気ヘッド2と磁気ディスク6と、磁気ヘッドとディスクの摺動接触部より放出され,荷電粒子検出器として機能変化した磁気抵抗素子に集められた荷電粒子の信号を計測する荷電粒子計測装置10と、パソコン11と、表示装置12と、トリガ回路13を備えている

請求項（抜粋）：

微小な摩擦接触部において被検体に摩擦接触する検出器ヘッドに取り付けられた荷電粒子捕集素子と、前記荷電粒子捕集素子と電流リード線を介して接続している荷電粒子計測装置と、前記荷電粒子計測装置の動作を制御するトリガー回路とを備え、前記荷電粒子捕集素子はシールド部材によって遮蔽された状態で前記被検体に向かって非接触で露出して前記検出器ヘッドに取り付けられており、かつ前記荷電粒子捕集素子は磁気抵抗材料で構成されており、前記荷電粒子計測装置は少なくとも、前記荷電粒子捕集素子から入力された荷電粒子の電流、または電荷、またはその電荷が変換された電圧を増幅し、積算する機能を備えるものであることを特徴とする磁気抵抗素子を利用した荷電粒子放出検出装置。

IPC (4件)：

G11B 5/00 ,  G11B 5/39 ,  G11B 5/84 ,  H01L 43/08

FI (4件)：

G11B 5/00 D ,  G11B 5/39 ,  G11B 5/84 C ,  H01L 43/08 U

Fターム (12件)：

5D034BA02 ,  5D034BA08 ,  5D034BB08 ,  5D034BB14 ,  5D034CA00 ,  5D091AA10 ,  5D091DD03 ,  5D091DD30 ,  5D091FF02 ,  5D091HH20 ,  5D112AA24 ,  5D112JJ06

引用特許：

出願人引用 (2件)

• アンテナ構造を備えた帯電量評価素子
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-179372   出願人：株式会社日立製作所
• 接触状態観察方法およびその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-005733   出願人：独立行政法人産業技術総合研究所