特許
J-GLOBAL ID：200903072097912153

接触状態観察方法およびその装置

発明者：
中山 景次

中山 景次 について

, 
斉藤 昇

斉藤 昇 について


出願人/特許権者：
独立行政法人産業技術総合研究所

独立行政法人産業技術総合研究所 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-005733
公開番号（公開出願番号）：特開2002-214103
出願日： 2001年01月12日
公開日（公表日）： 2002年07月31日
要約：
【要約】【課題】本発明は、固体と固体の動的接触部より発生する荷電粒子とAE信号を同時計測することにより、摩擦面のミクロな破壊状態、摩耗新生面の発生状態、摩耗新生面と周囲分子の相互作用状態、マイクロプラズマの発生状態などの情報によりに、摩擦の動的接触状態を多角的に観察できる方法およびその装置を提供することを目的とする.【解決手段】本発明による接触状態観察方法およびその装置は、プラスあるいはマイナスの電圧を印加することによりスライダーと被検体との摩擦接触部で発生する荷電粒子を捕集し、これを信号として検知するとともに、被検体の材質の一部が摩擦面で破壊するときに発生するアコースティックエミッションの信号を検知し、両者の信号を同時に計測開始し、それぞれの信号を積算することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
プラスあるいはマイナスの電圧を印加することによりスライダーと被検体との摩擦接触部で発生する荷電粒子を捕集し、これを信号として検知するとともに、被検体の一部が摩擦面で破壊するときに発生するアコースティックエミッションの信号を検知し、両者の信号を同時に計測開始し、それぞれの信号を積算することを特徴とする接触状態観察方法。
IPC (5件)：
G01N 3/56 ,  G01N 27/60 ,  G01N 29/14 ,  G11B 5/00 ,  G11B 21/20
FI (5件)：
G01N 3/56 Z ,  G01N 27/60 C ,  G01N 29/14 ,  G11B 5/00 D ,  G11B 21/20 F
Fターム (10件)：
2G047AC10 ,  2G047BA05 ,  2G047BC00 ,  2G047GG09 ,  2G047GG14 ,  2G047GG15 ,  5D091AA08 ,  5D091DD03 ,  5D091FF01 ,  5D091HH20
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (2件)

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