特許
J-GLOBAL ID：200903057531315925
顕微鏡装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
吉武 賢次
, 永井 浩之
, 岡田 淳平
, 鈴木 清弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-270203
公開番号（公開出願番号）：特開2004-109348
出願日： 2002年09月17日
公開日（公表日）： 2004年04月08日
要約：
【課題】試料の観察中においても光学断層像の厚さを所望な値に迅速に設定可能な顕微鏡装置を提供する。【解決手段】顕微鏡装置は、制御電気信号(18a)を生成する制御手段(18)と、光源(1)から出射した光束が照射される照射面(7a)を有し、制御電気信号を受け照射面の反射特性または透過特性を制御電気信号で指定される空間的周波数で空間的変調可能な空間的変調手段(7)と、空間的変調手段によって空間的変調された光束を試料(12)に照射する照射光学手段(8,11)と、照射光学手段によって照射され試料から生じる信号光からなる信号画像を検出する画像検出手段(15)と、制御手段によって空間的周波数に係る異なる少なくとも3個の位相を設定し、各々の位相毎に画像検出手段によって検出した信号画像を互いに演算し光学断層像を求める演算手段(16)と、を備えることを特徴とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
制御電気信号を生成する制御手段と、
光源から出射した光束が照射される照射面を有し、前記制御電気信号を受け前記照射面の反射特性または透過特性を前記制御電気信号で指定される空間的周波数で空間的変調可能な空間的変調手段と、
前記空間的変調手段によって空間的変調された光束を試料に照射する照射光学手段と、
前記照射光学手段によって照射され前記試料から生じる信号光からなる信号画像を検出する画像検出手段と、
前記制御手段によって前記空間的周波数に係る異なる少なくとも3個の位相を設定し、各々の前記位相毎に前記画像検出手段によって検出した前記信号画像を互いに演算し光学断層像を求める演算手段と、
を備えることを特徴とする顕微鏡装置。
IPC (7件)：
G02B21/16
, G02B21/06
, G02B21/36
, G02B27/18
, G02B27/46
, G02F1/13
, H04N5/225
G02B21/16
, G02B21/06
, G02B21/36
, G02B27/18 Z
, G02B27/46
, G02F1/13 505
, H04N5/225 Z
2H052AA09
, 2H052AB06
, 2H052AC18
, 2H052AC27
, 2H052AF14
, 2H052AF25
, 2H088EA22
, 2H088EA37
, 2H088HA13
, 2H088HA21
, 2H088HA24
, 2H088MA20
, 5C022AB15
, 5C022AC42
, 5C022AC54
, 5C022AC69
