特許
J-GLOBAL ID：200903057578780782
欠陥検出装置、イメージセンサデバイス、イメージセンサモジュール、画像処理装置、デジタル画像品質テスタ、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、およびコンピュータ読取可能な記録媒体
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人原謙三国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-280888
公開番号（公開出願番号）：特開2007-093304
出願日： 2005年09月27日
公開日（公表日）： 2007年04月12日
要約：
【課題】デジタル画像における欠陥領域の有無を、短時間かつコンパクトな回路構成で判定する。【解決手段】欠陥領域を検出する対象となる被検査画像を、複数のブロックに分割するブロック分割部5と、ブロック分割部5により分割された各ブロックについて、ブロック内に存在する画素の画素データを加算した値であるブロック加算値を算出するブロック加算値算出部6と、ブロック加算値の外れ値があるかを統計的処理により判定することで欠陥領域の有無を判定する統計処理部7および良否判定部8とを備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
自身の周囲の領域に比べて画素データが不均一に変化する領域である欠陥領域を、デジタル画像内から検出する欠陥検出装置であって、
上記欠陥領域を検出する対象となる被検査画像を、複数のブロックに分割するブロック分割手段と、
上記ブロック分割手段により分割された各ブロックについて、ブロック内に存在する画素の画素データを加算した値であるブロック加算値を算出するブロック加算値算出手段とを備え、
上記ブロック加算値の外れ値があるかを統計的処理により判定することで上記欠陥領域の有無を判定する欠陥領域有無判定手段に対して、上記ブロック加算値を出力することを特徴とする欠陥検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/88 J
, G06T1/00 305A
2G051AA90
, 2G051AB02
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA21
, 2G051EA23
, 2G051EB01
, 2G051EC01
, 2G051EC02
, 2G051EC03
, 2G051EC05
, 2G051ED04
, 5B057AA03
, 5B057BA11
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CH01
, 5B057DA03
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC22
