特許

J-GLOBAL ID：200903070650498147

液晶セルの検査装置および検査方法

発明者： 小林 繁隆 ,  和田 竹彦 ,  児島 栄作
出願人/特許権者： 奇美電子股▲ふん▼有限公司
代理人 (1件)： 楠本 高義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-073393
公開番号（公開出願番号）：特開2004-279891
出願日： 2003年03月18日
公開日（公表日）： 2004年10月07日
要約：

【課題】本発明の目的は、液晶モジュールを組み上げる前の液晶セルにおいて、表示ムラを検査員の能力に左右されないで検査できる検査装置および検査方法を提供することにある。【解決手段】本発明の検査装置10は、レーザー18aを発振する発振器12と、発振器12とカラーフィルター基板24との間で、レーザー18aを第1レーザー18bと第2レーザー18cに分けるハーフミラー20と、第1レーザー18bの光量を検知する第1デテクター14と、液晶セル28を透過した第2レーザー18cの光量を検知する第2デテクター16と、第1デテクター14が検知した光量と第2デテクター16が検知した光量より、第2レーザー18cの液晶セル28に対する透過率を計算する演算手段とを備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

カラーフィルター基板と、 前記カラーフィルター基板と隙間を有して対向するアレイ基板と、 前記隙間に封止された液晶と、 を含む液晶セルの検査装置であって、 レーザーを発振する発振器と、 前記発振器と前記カラーフィルター基板との間において、前記レーザーを第1レーザーと第2レーザーに分けるハーフミラーと、 前記第1レーザーの光量を検知する第1デテクターと、 前記液晶セルを透過した第2レーザーの光量を検知する第2デテクターと、 前記第1デテクターが検知した光量と第2デテクターが検知した光量より、第2レーザーの液晶セルに対する透過率を計算する手段と、 を含む検査装置。

IPC (5件)：

G02F1/13 ,  G01M11/00 ,  G01N21/958 ,  G02F1/13357 ,  G09F9/00

FI (5件)：

G02F1/13 101 ,  G01M11/00 T ,  G01N21/958 ,  G02F1/13357 ,  G09F9/00 352

Fターム (28件)：

2G051AA90 ,  2G051AB20 ,  2G051BA10 ,  2G051BC05 ,  2G051CA02 ,  2G051CB02 ,  2G051CD03 ,  2G051EA08 ,  2G086EE10 ,  2H088FA10 ,  2H088FA12 ,  2H088FA13 ,  2H088FA24 ,  2H088FA30 ,  2H088HA12 ,  2H088MA16 ,  2H088MA17 ,  2H088MA18 ,  2H091FA02 ,  2H091FA15 ,  2H091FD06 ,  2H091FD12 ,  2H091LA11 ,  2H091LA12 ,  5G435AA19 ,  5G435BB12 ,  5G435GG09 ,  5G435KK10

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 周期性パターンの透過率検査及びムラ定量化方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-009675   出願人：大日本印刷株式会社
• 特開平1-313745
  
• 透過率測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-037392   出願人：株式会社ニコン
• 特開昭61-038537