特許
J-GLOBAL ID：200903057739976887

スペクトルデータを用いた分析方法及びその装置

発明者：
神 ちひろ

神 ちひろ について


出願人/特許権者：
日本分光株式会社

日本分光株式会社 について


代理人 (1件)： 岩橋 祐司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-146763
公開番号（公開出願番号）：特開2002-340791
出願日： 2001年05月16日
公開日（公表日）： 2002年11月27日
要約：
【要約】【課題】 本発明の目的は、分析が容易に及び正確に行えるスペクトルデータを用いた分析方法を提供することにある。【解決手段】 試料の保管に用いられ、測定光に対する光透過性を有する所定のサンプルバッグ中に試料を入れたままの状態で、該試料に該測定光を照射して得られた測定結果に基づいてスペクトルデータを得るスペクトル採取工程(S110)と、前記スペクトル採取工程(S110)で得られた試料のスペクトルデータから、予め得ておいた前記サンプルバッグに由来する干渉縞成分を除くフィルタ処理工程(S112)と、前記フィルタ処理工程(S112,S114)で得られたスペクトルデータを用いて試料の分析を行う分析工程(S116)と、を備えたことを特徴とするスペクトルデータを用いた分析方法。
請求項（抜粋）：
測定光に対する光透過性を有し、試料の保管に用いた所定のサンプルバッグ中に試料を入れたままの状態で、該試料に該測定光を照射して得られた測定結果に基づいてスペクトルデータを得るスペクトル採取工程と、前記スペクトル採取工程で得られた試料のスペクトルデータから、予め得ておいた前記サンプルバッグに由来する干渉縞成分を除くフィルタ処理工程と、前記フィルタ処理工程で得られたスペクトルデータを用いて試料の分析を行う分析工程と、を備えたことを特徴とするスペクトルデータを用いた分析方法。
IPC (2件)：
G01N 21/27 ,  G01J 3/42
FI (2件)：
G01N 21/27 Z ,  G01J 3/42 Z
Fターム (30件)：
2G020AA03 ,  2G020BA02 ,  2G020BA03 ,  2G020CA02 ,  2G020CA12 ,  2G020CB04 ,  2G020CB42 ,  2G020CC21 ,  2G020CD04 ,  2G020CD16 ,  2G020CD35 ,  2G020CD36 ,  2G020CD52 ,  2G059AA02 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE10 ,  2G059EE12 ,  2G059GG00 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH06 ,  2G059KK01 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12 ,  2G059NN01 ,  2G059PP04
引用特許：
審査官引用 (3件)

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