特許
J-GLOBAL ID：200903058285601391

離形フイルム

発明者：
森本 幸朗

森本 幸朗 について


出願人/特許権者：
帝人デュポンフィルム株式会社

帝人デュポンフィルム株式会社 について


代理人 (1件)： 三原 秀子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-123370
公開番号（公開出願番号）：特開2004-323766
出願日： 2003年04月28日
公開日（公表日）： 2004年11月18日
要約：
【課題】ポリエステルフイルムの凸凹が成形体に転写しない優れた表面特性、表面平坦性を有するとともに、加工工程に適し、離形性が良好な離形フイルムを提供する。【解決手段】ポリエステル中に平均粒径が0.05μm以上0.6μm未満、粒径比(長径/短径)が1.0〜1.2であり、かつ相対標準偏差が0.3以下である球状シリカ粒子および/または球状架橋シリコーン粒子を0.01〜3.0重量%分散含有させてなる二軸配向ポリエステルフイルムの表面に離形層を有する離形フイルムであって、ポリエステルフイルムの表面の中心線平均粗さRaが5nm以上15nm未満でありかつ最大高さRmaxと10点平均粗さRzの差が100nm以下であることを特徴とする離形フイルム。【選択図】 なし
請求項（抜粋）：
ポリエステル中に平均粒径が0.05μm以上0.6μm未満、粒径比(長径/短径)が1.0〜1.2であり、かつ下記式で表わされる相対標準偏差が0.3以下である球状シリカ粒子および/または球状架橋シリコーン粒子を0.01〜3.0重量%分散含有させてなる二軸配向ポリエステルフイルムの表面に離形層を有する離形フイルムであって、ポリエステルフイルムの表面の中心線平均粗さRaが5nm以上15nm未満でありかつ最大高さRmaxと10点平均粗さRzの差が100nm以下であることを特徴とする離形フイルム。
IPC (8件)：
C08J7/04 ,  B29C55/12 ,  B32B27/00 ,  B32B27/36 ,  C08J5/18 ,  C08K7/18 ,  C08L67/00 ,  C08L83/04
FI (8件)：
C08J7/04 Z ,  B29C55/12 ,  B32B27/00 L ,  B32B27/36 ,  C08J5/18 ,  C08K7/18 ,  C08L67/00 ,  C08L83/04
Fターム (72件)：
4F006AA35 ,  4F006AA42 ,  4F006AA55 ,  4F006AB19 ,  4F006AB39 ,  4F006BA09 ,  4F006BA11 ,  4F006CA08 ,  4F006CA09 ,  4F006DA04 ,  4F006EA03 ,  4F006EA05 ,  4F006EA06 ,  4F071AA43 ,  4F071AA45 ,  4F071AA46 ,  4F071AA47 ,  4F071AA67 ,  4F071AA88 ,  4F071AB26 ,  4F071AD02 ,  4F071AD06 ,  4F071AF13 ,  4F071AF27Y ,  4F071AF53 ,  4F071AG28 ,  4F071AH12 ,  4F071AH19 ,  4F071BB06 ,  4F071BB08 ,  4F071BC01 ,  4F071BC14 ,  4F071BC16 ,  4F100AA20A ,  4F100AK41A ,  4F100AK42 ,  4F100AK52 ,  4F100AK52A ,  4F100BA02 ,  4F100DE01A ,  4F100EJ38A ,  4F100GB90 ,  4F100JK14B ,  4F100JK16B ,  4F100JL14B ,  4F100YY00A ,  4F100YY00B ,  4F210AA24 ,  4F210AA33 ,  4F210AB07 ,  4F210AB17 ,  4F210AE10 ,  4F210AG01 ,  4F210AG03 ,  4F210AH81 ,  4F210QA02 ,  4F210QA03 ,  4F210QC06 ,  4F210QD08 ,  4F210QG01 ,  4F210QG15 ,  4F210QG18 ,  4F210QW07 ,  4J002CF061 ,  4J002CF081 ,  4J002CP032 ,  4J002DJ016 ,  4J002FA082 ,  4J002FA086 ,  4J002GB00 ,  4J002GJ00 ,  4J002GQ00
引用特許：
審査官引用 (9件)
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